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DDR4×8合金内存条探针测试治具

DDR4×8合金内存条探针功能测试

DDR4×8合金内存条探针夹具

DDR4×8合金内存条探针验证治具

定制DDR4×8合金内存条探针功能测试

绝缘阻抗:1000mΩ Min.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1A max/Pin

工作温度:-55°℃ ~+125°C

最高测试速率:2800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket)

操作力:15~30g/Pin MAX

服务热线: 13631538587
鸿怡电子生产的DDR200内存颗粒测试夹具产品介绍

DDR Memory系列测试座:DDR为易失性存储器,分为SRAM和DRAM,其中DRAM又分为SDRAM和DDR_SDRAM,我们所说的DDR3、DDR4、LPDDR4、LPDDR5、DDR5等是属于DDR SDRAM。

台式主机上使用的,我们一般叫做内存条,学名DIMM,是多个DDR颗粒组成的模块。笔记本的内存条尺寸较小,我们一般成为SO-DIMM,服务器用的则是RDIMM和 UDIMM、LRDIMM。以上这些产品我们均有对应的老化测试座以及功能测试座和对应的测试治具。

采用DDR3内存条公板,兼容性好。支持多尺寸测试,更换内存条夹具限位框即可

接触方式:探针                               外壳材质:合金

应用IC:DDR4X8                           结构:翻盖式

最高频率:3200MHZ                      使用寿命:10万次

额定电流:1A                                工作温度:-55°℃ ~+125°C

常见尺寸:9x11mm



DDR4×8合金内存条探针测试夹具产品展示
  • resource/images/46826cb7d53344bbae2fa45d41655626_38.jpgDDR4×8合金内存条探针测试夹具
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采购: 定制DDR4×8合金内存条探针功能测试
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