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CQFP芯片老化测试socket

CQFP芯片老化测试座

CQFP芯片老化夹具

CQFP老炼座

QFP芯片老化座

定制CQFP64pin-1.0mm芯片老化座

CQFP64pin芯片老化测试座产品特点及规格

Socket本体：PEI+PEEK

探针材料：铍铜

探针镀层：镍金

操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大

接触阻抗：50mΩmax

耐压测试：700V AC for lminute

绝缘阻抗：1000m500V DC

最大电流：1A

使用温度：-45°C-+125*C

机械寿命：大于15000次(机械测试)

服务热线： 13631538587

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鸿怡电子生产的CQFP64pin-1.0mm-18.4*18.4mm芯片老化测试座产品简介

QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装翻盖结构测试座支持 EEPROM，驱动器IC，电源IC等。

QFP封装是元件封装的一种形式，常用的封装材料有:塑料、陶瓷、玻璃、金属等，基本上采用塑料封装，应用范围广泛，主要用于各种集成电路。

测试座分为翻盖和下压结构，现有适配芯片尺寸间距为:0.4、0.5、0.8、1.0、1.27mm

CQFP64pin-1.0mm芯片参数

CQFP64pin芯片图纸

CQFP64pin-1.0mm芯片老化测试座图纸

CQFP64pin芯片老化测试插座图纸

CQFP64pin-1.0mm芯片老化测试座产品展示

IC老练插座
QFP64pin探针老化测试座
QFP老化测试座
CQFP芯片老练测试夹具
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芯片老化测试座

采购：定制CQFP64pin-1.0mm芯片老化座

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