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BGA芯片测试治具

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芯片测试治具

IC测试治具

芯片测试治具座

定制BGA48pin-8*6mm芯片测试治具

产品数据:

1.应用Pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8mm等

2.材料:FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+陶瓷

3.适用封装:BGA/QFP/QFNMCSP等

4.结构:双扣,翻盖旋钮,翻盖,Open-top

5、接触方式:探针

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鸿怡电子生产定制的BGA48pin-8*6mm芯片测试治具产品介绍

BGA芯片测试座,BGA芯片老化座,BGA芯片烧录座,BGA芯片测试夹具,测试治具,BGA芯片测试架

定制BGA48pin-8*6mm芯片测试治具产品特点

定制IC测试治具
凭借多年的测试治具设计、制作经验，根据OEM客户现有的产品PCBA板，直接将Socket精准的固定产品之上，无需layout，大大降低测试成本，广泛适用 ODM/半导体FAE部门的IC验证。
产品特点:
1、根据客户现有的PCBA产品板，单独定制
更加贴近实际芯片使用情况，且无需lay板，交期快，费用低
2、积累多年设计经验，保证IC定位精准的同时
且拆卸、维护方便
3、探针可以单独更换，降低使用成本
4、适用范围:显卡、主机板、智能通信等数码设备

BGA48pin-8*6mm芯片图纸

BGA48pin芯片测试

BGA48pin芯片测试治具图纸（仅展示座子图纸）

BGA48pin芯片测试座图纸

鸿怡电子生产定制的BGA48pin-8*6mm芯片测试治具

BGA48芯片测试架
BGA48芯片测试夹具
BGA48芯片测试治具
芯片测试治具
芯片测试架

采购：定制BGA48pin-8*6mm芯片测试治具

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