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热搜关键词: 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储

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定制邮票孔模块测试座

256PIN模块老化夹具

邮票孔模块探针老化座

模块256pin测试socket

邮票孔模块测试夹具座

定制BGA256pin-1.0mm芯片测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:旋钮翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:1.0mm
12、适配芯片尺寸:44.98*44.98mm

联系工程师:电话微信同号:19925483684(韦工)

服务热线: 13631538587
深圳鸿怡电子生产定制的256pin-1.0  (44.98x44.98)邮票孔模块合金探针测试座产品简介

模块测试座产品特点
1、 采用翻盖式结构,操作方便;
2、上盖的IC压板采用翻盖式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
3、探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
4、高精度的定位槽,保IC定位以及焊盘精确导通;
5、采用浮板结构有球无球都能测
6、镀金探针材料
7、探针可更换,维修方便,成本低
8、绝缘材料制作;
9、最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离);


 

邮票孔模块256pin-1.0mm芯片图纸

芯片测试座夹具

邮票孔模块256pin-1.0mm 芯片 测试座图纸

邮票孔模块测试夹具插座

邮票孔模块256pin-1.0mm 芯片测试座socket产品展示
  • 定制邮票孔模块测试座_500x405
    邮票孔封装芯片测试座
  • 邮票孔模块探针老化座_500x405
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  • 定制老化夹具插座_500x405
    模块256pin芯片测试座socket
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    芯片测试夹具
采购: 定制BGA256pin-1.0mm芯片测试座
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