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定制BGA25-0.4翻盖探针老化测试座

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定制BGA25-0.4翻盖探针老化测试座:

封装:BGA25

尺寸:1.965x1.965mm

中心引脚间距:0.4mm

壳体材质:PEI

探针材料:镀金铍铜

操作压力:25g/pin

接触阻抗:100mΩ

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

老化温度:-45°C-+150°C

老化寿命:5000H

机械寿命:大于80000次(机械测试)

定制老化座:黄工13622364332,VX同号  备注来源:官网。

服务热线: 13631538587
鸿怡电子生产的定制BGA25-0.4翻盖探针老化测试座产品介绍
适用规格 BGA25-0.4-1.965x1.9658mm
支持频率 ≤800Mhz
温度范围 -45℃-150℃
操作力压 25g每pin,PIN越多需要压力越大
额定电流 1A
接触电阻 ≤100毫欧
绝缘电阻 DC500V1000兆欧以上

BGA25芯片规格参数

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BGA25芯片测试座图纸

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BGA152芯片测试座产品展示
  • resource/images/2605bd81f59d446ab24f582d8debc620_18.jpg
    FBGA25老化座
  • resource/images/2605bd81f59d446ab24f582d8debc620_20.jpg
    BGA25老化座
  • resource/images/2605bd81f59d446ab24f582d8debc620_22.jpg
    BGA25老化夹具
  • resource/images/2605bd81f59d446ab24f582d8debc620_24.jpg
    BGA25老化socket
  • resource/images/2605bd81f59d446ab24f582d8debc620_26.jpg
    BGA25测试座
  • resource/images/2605bd81f59d446ab24f582d8debc620_28.jpg
    BGA25烧录座
采购: 定制BGA25-0.4翻盖探针老化测试座
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0755-83587595