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3225晶振老化socket

3225晶振老化测试座

3225晶振老炼测试夹具

IC老化测试插座

IC老炼测试夹具

晶振老化座

定制3225-8Pin晶振老化测试座

3225晶振老化测试座参数:

支持频率:≤1Ghz

温度范围:-45℃~125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN 1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

服务热线: 13631538587
深圳鸿怡电子生产的3225-8pin-0.825mm老化测试座产品简介

贴片晶振以及微小芯片老化测试座:

贴片晶振是一种封装形式为贴片的晶振器件。它通常采用表面贴装技术(SMT)封装,具有小尺寸、轻量、易于安装等特点。需要注意的是,测试时需要确保测试环境的稳定性,避免干扰信号对测试结果的影响。另外,如果晶振无法正常工作,可能是晶振本身故障或者外部电路问题,可以进一步检查和排除故障。

3225-8pin晶振规格参数

3225-8pin晶振图纸

3225-8pin晶振老化测试座图纸

3225-8pin晶振老化测试座图纸

3225-8pin老化测试座产品展示
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采购: 定制3225-8Pin晶振老化测试座
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