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QFP48pin芯片老化座

QFP48pin芯片老练插座

QFP芯片老化座

QFP芯片老化测试夹具

QFP芯片老化测试socket

标品QFP48pin-0.5mm芯片老化座

标准品QFP48pin-0.5mm芯片老化座产品特点及规格

Socket本体：PEI+PEEK

Socket结构：翻盖式+加接地

弹片针材料：铍铜

弹片针镀层：镍金

操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大

接触阻抗：50mΩmax

耐压测试：700V AC for lminute

绝缘阻抗：1000m500V

DC最大电流：1A

使用温度：-45°C-+125°C

机械寿命：大于20000次(机械测试)

服务热线： 13631538587

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鸿怡电子生产的标准品QFP48pin-0.5mm-7*7mm芯片老化座产品介绍

QFP/LQFP/TQFP/OTQ封装翻盖结构测试座支持 EEPROM，驱动器IC，电源IC等。

QFP封装是元件封装的一种形式，常用的封装材料有:塑料、陶瓷、玻璃、金属等，基本上采用塑料封装，应用范围广泛，主要用于各种集成电路。

测试座分为翻盖（旋钮）和下压结构，现有适配芯片尺寸间距为:0.4、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27mm

QFP48pin-0.5mm芯片规格参数

QFP48pin-0.5mm芯片图纸

QFP48pin-0.5mm芯片老化座图纸

QFP48pin-0.5mm芯片老化座产品展示

QFP老化座
QFP芯片老化座
QFP芯片老练插座
QFP48pin芯片老化测试座
芯片测试夹具
QFP48pin芯片老化测试socket

采购：标品QFP48pin-0.5mm芯片老化座

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