创新型 专精特新企业
订购热线:
13632719880
首页
产品中心
产品解决方案
定制IC测试座
老化板定制
资讯
品牌
联系鸿怡
采购
联系鸿怡
常见问答
热搜关键词:
定制IC测试座
IC老化板
模块测试座
SSD-flash存储
您当前的位置:
首页
>
产品频道
产品中心
定制LCC60-1.1 (15.45X23.75)合金翻盖探针测试座
定制QFN40-0.5 7x5x0.943合金翻盖开窗测试座
定制BGA169pin-0.5 8x8合金旋钮翻盖老化座
定制BGA900(31x31)芯片测试座socket夹具
定制LCC64pin-0.7mm芯片测试座
定制WLCS25-0.5 (2.415X2.415)合金翻盖探针老化座
定制BGA28-0.5(3.5×1.95)探针测试座烧录老化夹具
定制QFN20-0.8 8*8 芯片测试座
定制DFN8-0.65 3x3x0.75 无磁测试座_副本
定制QFN20-0.8 18*11 芯片测试座
定制BGA282PCR导电胶测试座夹具socket
定制 QFN28-0.7(6*6*1.7)合金翻盖芯片测试座
首页
上一页
4
5
6
下一页
末页
鸿怡电子产品中心
非标定制测试座
现货标准品
QFN/DFN封装系列
BGA封装系列
QFP/OTQ封装系列
SOP/OTS封装系列
TO封装系列
LGA封装系列
WLCSP封装系列
LCC/CLCC封装系列
EMMC/EMCP/UFS
SOT封装系列
LPDDR-GDDR-DDR系列
SMA/SMB/SMD系列
SSD-flash存储系列
有源/无源晶振系列
电阻电容电感系列
模块测试座
IGBT和新能源系列
军品/科研/航空
IC/芯片老化板
连接器测试微针模组
推荐资讯
鸿怡电子工程师:芯片测试座是决定芯片能不能“测得过得”的守门工具
BGA441pin芯片测试座是如何保障芯片接触稳定性、信号完整性、耐高温的
芯片到底在测什么?芯片测试座又该如何选配—鸿怡电子IC测试座工程师为您解惑
微间距传感器芯片的可靠性测试:鸿怡电子0.05mm间距时代的工程测试挑战
LGA72pin算力供电芯片大电流测试座烧针解决方案
光电器件测试:COB光源为什么越来越“难测”?鸿怡电子光电器件SMD测试座解决方案
AI算力供电芯片测试座/老化座:从国产替代-非标定制-标准品落地-鸿怡HMILU测试座整套解决方案
鸿怡HMILU测试socket工程师:LPDDR4完整性测试从连通性到应力压测的五步验证体系
万物应用:柔性电路板FPC连接器-从FPC连接器参数到测试微针模组的多场景应用
DC~DC电源芯片多封装应用与测试-HMILU电源芯片测试座socket适配
咨询热线
0755-83587595
微信咨询
0755-83587595