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电源管理芯片测试:BGA25/77/144芯片封装与测试座的应用

来源: | 发布日期:2025-10-13

一、DC/DC 电源芯片工作原理

DC/DC 电源芯片是实现直流电压转换的核心器件,主流为开关型结构,通过 "斩波 - 变压 - 整流 - 滤波" 四步实现电压调节:

斩波阶段:内置MOS 管在 PWM(脉冲宽度调制)信号控制下高速通断,将输入直流转化为高频脉冲交流电,开关频率通常为几十 kHz 至几 MHz

变压阶段:高频脉冲通过电感、变压器等储能元件实现电压幅值转换(如Buck 拓扑降压、Boost 拓扑升压);

整流滤波:二极管或同步整流管将交流电转为脉动直流,再经电容滤除纹波,输出稳定直流电压;

反馈调节:采样电阻监测输出电压,通过误差放大器动态调整PWM 占空比,确保输出精度。


VDP 电源模块测试

二、DC/DC 电源芯片 BGA 封装测试技术

(一)典型 BGA 封装特性对比

BGA(球栅阵列)封装因高引脚密度、低寄生参数优势成为中高端 DC/DC 芯片首选,不同型号适配场景差异显著:

封装型号

球数范围

间距规格

核心特点

典型应用

BGA25

25

1.0mm

小型化,低功耗

可穿戴设备电源

BGA77

77

0.8mm

平衡密度与散热

智能家居控制器

BGA144

144

0.5-0.8mm

高集成度,多通道

工业控制电源模块

注:BGA 封装通过底部锡球实现电气连接,引脚密度随球数增加呈指数级提升

 

 

 

 

(二)封装测试核心挑战

接触可靠性:锡球间距最小仅0.5mm ,测试时需精准对位避免信号串扰;

散热控制:高功率芯片测试中结温易超阈值,需测试座辅助热管理;

多信号同步BGA144 等型号含电源、控制、反馈多类引脚,需同步采集测试数据。


电源管理芯片测试解决方案

三、DC/DC 电源芯片测试项、方法与标准

(一)核心测试项目

电性能测试

输入输出特性:输入电压范围(轻载 / 满载无骤降)、输出电压精度(含 20% 余量)、最大输出电流(留 10%-30% 裕量);

动态特性:负载瞬态响应(0-80% 满载切换时过冲 ≤5%)、启动单调性(无电压下跌)、开关纹波(高频噪声≤50mV);

保护功能:过压 / 过流 / 短路保护触发阈值及恢复能力。

可靠性测试

高温工作寿命(HTOL): 125℃/150℃下持续 1000-2000 小时运行;

环境适应性:-40℃~125℃温度循环、机械冲击( JESD22-B104 标准);

封装强度:焊球剪切力≥6gf/mil² 、引线键合拉力≥3gf1.0mil 金线)。

(二)关键测试方法

纹波测试:采用20MHz 带宽限制、AC 耦合模式,使用 X1 探头最小环路测量,测试点选输出电容两端,接地线 ≤2cm

负载瞬态测试:电子负载设定0-80% 满载切换速率,用示波器捕捉电压过冲与震荡;

HTOL 测试:施加1.1-1.3 倍标称电压,通过测试座实现高温环境下信号稳定传输;

封装完整性测试:推拉力测试机检测焊球剪切强度,超声扫描排查内部空洞。

(三)权威测试标准

标准体系

核心规范

适用场景

JEDEC

JESD22-B109(焊球剪切)、JESD22-A108(HTOL)

通用芯片可靠性

IPC

IPC-9701(焊点性能)、IPC/JEDEC-9702(板级跌落)

封装工艺验证

行业特定

AEC-Q100(车规,150℃/1000 小时)、MIL-STD-883(军规,-55℃~175℃)

高可靠性场景

四、鸿怡电子电源芯片测试座的关键作用

作为测试环节的核心载体,其价值体现在三大维度:


电源芯片BGA144测试座

高密度封适配:采用激光定位基准( ±1μm 精度),探针间距低至 0.35mm,可兼容 BGA25-BGA144 全系列封装,双层探针布局解决多信号同步测试难题;

极端环境支撑:耐受 - 40℃~150℃宽温范围,接触电阻≤20mΩ,满足车规 HTOL 测试中 1000 小时连续信号传输需求;

测试效率提升:插拔寿命>50 万次,支持 ATE 自动测试系统对接,配合独立保险丝设计,单工位芯片测试 座可实现 16 路芯片并行测试,故障扩散率降为 0

精度保障:真空吸附固定芯片,探针压力可调(5-20gf ),有效降低寄生电感干扰,使纹波测试误差≤2mV


电源芯片测试座

随着芯片向小型化、高功率密度演进,BGA 封装间距已缩小至 0.4mm,芯片 测试座正朝着 "超密探针 + 智能校准" 方向发展。鸿怡电子推出的第三代 电源芯片 测试座,集成温度传感器与阻抗补偿功能,可实时修正测试偏差,为下一代 DC/DC 芯片量产测试提供关键支撑。


 

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