鸿怡电子生产定制的QFN56pin-0.4mm-7x7mm合金翻盖芯片探针测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN56pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
QFN56pin芯片测试座产品简介:
芯片测试温度:-55°~+155°
芯片测试电流:300mA
芯片测试频率:1Ghz
芯片测试夹具结构:翻盖式
芯片测试socket材料:合金