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LGA10pin-0.7mm-3.6×3.6×1.45mm一拖40工位芯片测试座socket详细信息/Detailed Information

LGA10pin-0.7mm-3.6×3.6×1.45mm一拖40工位芯片测试座socket

LGA10pin多工位芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LGA
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:0.7mm
适配芯片尺寸:3.6*3.6mm
芯片厚度:1.45mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式-一拖40工位
测试座材料:合金+PEEK
订购热线:13631538587
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鸿怡电子研发、生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket
和Test-Socket,产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,

针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制。 

鸿怡电子生产定制的LGA10pin-0.7mm-3.6×3.6×1.45mm一拖40工位芯片测试座socket厂家

产品介绍: 
产品名称:LGA10pin-0.7mm-3.6×3.6×1.45mm一拖40工位芯片测试座
使用用途:对LGA10pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试 
性能参数:导通测试没有频率电流温度等要求。
产品特点: 
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
④测试(老化)PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接、固定,拆卸、维护简单方便。

IC测试座

LGA芯片测试socket

LGA芯片测试夹具

芯片测试座

采购:LGA10pin-0.7mm-3.6×3.6×1.45mm一拖40工位芯片测试座socket

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芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK
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接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK
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芯片封装形式:WLCSP
芯片引脚:42pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:2.633*3.184mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:PEI+PEEK

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