鸿怡电子生产定制的开关电源芯片DFN4pin-5.5mm-014-KNL(8X3.8mm)老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于DFN芯片测试环境:老化、测试、烧录
DFN4pin芯片老化座产品简介:
芯片测试频率:2Mhz
芯片测试温度:-45°~+155°
芯片测试电流:3A
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:塑胶