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定制SSOP20pin-0.5mm-4.9x5.1mm塑胶翻盖老化测试座socket详细信息/Detailed Information

定制SSOP20pin-0.5mm-4.9x5.1mm塑胶翻盖老化测试座socket

SSOP20pin芯片老化测试座socket规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:SSOP
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:4.9*5.1mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
老炼夹具材料:PEI、PEEK
订购热线:13631538587
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鸿怡电子研发、生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket
和Test-Socket产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等,
有开模和机加定制二种。针对非标类及特殊要求的测试座/测试治具,更可一件起定制。

鸿怡电子生产定制的SSOP20pin-0.5mm-4.9x5.1mm塑胶翻盖老化测试座socket,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

适用于SSOP20pin芯片模拟电路测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试

SSOP20pin芯片老化测试座产品简介:

仅做老化测试,无其他测试要求

老化测试温度:-45° ~+155°,持续时长:1000h

更多产品需求,详询请点击:我厂支持非标来图一件定制,提供完善的整套IC测试解决方案,并可提供类似案例参考,详询请联系客服

IC老炼座

IC老化测试座

SSOP芯片老炼测试夹具

SSOP芯片老化测试夹具

采购:定制SSOP20pin-0.5mm-4.9x5.1mm塑胶翻盖老化测试座socket

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芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK
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接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK
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芯片封装形式:WLCSP
芯片引脚:42pin
芯片引脚间距:0.4mm
适配芯片尺寸:2.633*3.184mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:PEI+PEEK

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