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定制NB80pin-1.0-23×24模块下压探针测试座详细信息/Detailed Information

定制NB80pin-1.0-23×24模块下压探针测试座

测试座结构:下压式
封装:QFN封装,80pin 间距0.4mm
应用:可适用用自动设备的测试、烧录使用
订购热线:13631538587
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工厂介绍

鸿怡电子生产定制NB80pin-1.0-23×24模块下压探针测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

产品特点:

1、本品为下压结构合金探针测试座;

2、适用于间距为0.35-1.27mm的QFN/BGA/LCC等封装芯片;

3、紧凑的设计和较小的测试压力;

4、独特的结构避免卡球;

5、可更换限位框,高精度的定位槽和导向孔,测试准确无误;

6、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试;

7、人性化设计,探针可更换,便于拆卸、维护,降低测试成本;

8、进口探针、工程材料结合高精度制作设备,socket测试更稳定,使用寿命更长。

产品参数:

产品封装:QFN封装80pin

芯片间距:0.5mm

测试座用途:测试、烧录、老化(可根据客户不同使用需求下针)



下压探针测试座

测试座

模块测试座

NB40pin模块测试座

采购:定制NB80pin-1.0-23×24模块下压探针测试座

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