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定制LQFP100-0.5翻盖旋钮探针测试治具夹具测试架socket详细信息/Detailed Information

定制LQFP100-0.5翻盖旋钮探针测试治具夹具测试架socket

QFP100芯片测试架简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:600Mhz
特点:①按芯片管脚精准开槽保证引脚接触稳定且不变形;②探针拆卸更换、维修成本低。
订购热线:13631538587
立即咨询
QFP100测试治具测试架简介:
①QFP100测试治具根据客户提供的产品来设计固定被测芯片socket,用于免焊接快速验证测试芯片功能。
②QFP100测试治具采用铝合金夹板,表层氧化绝缘,经久耐磨。
③QFP100测试治具核心精密针板采用PEEK工程材料CNC加工而成,精准度可达±0.02mm,与被测物pad精准稳定接触。
④QFP100测试治具采用德国/日本进口双头测试探针,寿命长过频率高。

⑤QFP100测试治具提供3个与免费质保(人为除外)。

QFP100测试架

QFP100测试工装

QFP100测试夹具

QFP100烧录架

LQFP100测试治具

采购:定制LQFP100-0.5翻盖旋钮探针测试治具夹具测试架socket

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接触介质:探针
老化座结构:翻盖式-一拖四工位
老化座材料:PEI+PEEK
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芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
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接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
老化座材料:合金+PEEK
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芯片封装形式:BGA
芯片引脚:121pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:8*8mm
接触介质:探针
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:PEI+PEEK

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