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定制LGA9-0.3875一拖六翻盖探针老化座详细信息/Detailed Information

定制LGA9-0.3875一拖六翻盖探针老化座

产品名称:LGA9一拖六探针老化座
尺寸:1.5*1.5mm
间距:0.35mm
应用:QFN/LGA芯片的老化测试烧录
订购热线:13631538587
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工厂介绍

鸿怡电子生产定制LGA9-0.35一拖六翻盖探针老化座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。



鸿怡电子关于定制测试座/老化座您可了解的优势:

1、探针结构,更稳定,寿命更长,好维护;

2、根据客户芯片图纸一比一定制,精度高,出货快;

3、外观结构更耐用,翻盖/下压均可定制,可耐军工三温老化测试;

4、根据客户测试要求定制,重大程度化满足客户测试需求。

5、更耐用,手动测试寿命10W次,自动化测试20万次;

6、源头工厂优势,一件起定制,20年研发定制测试座经验,为您服务

7、制作灵活,可在客户现有的测试板上制作测试座,帮助安装测试OK,也可以直接提供布板图和测试座供客户lay板。

更多关于定制测试座的流程,欢迎随时联系我司。

产品图片




LGA9探针老化座

老化测试座

LGA9老化座

LGA老化座

采购:定制LGA9-0.3875一拖六翻盖探针老化座

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