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QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具详细信息/Detailed Information

QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

产品名称:QFN封装电源芯片测试治具
详情描述:QFN封装,18pin 间距0.4mm 4*3mm
在客供的PCB板上装上测试socket,电源芯片,可耐高电流
订购热线:13631538587
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产品名称:QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

产品特性:

1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
5、耐压:AC700V@1min;    Dielecteic Withstanding Voltage For 1 Minute AT AC700V
6、接触电阻:≤100mΩ;  
7、绝缘电阻(insulation resistance):1000MΩ Min At DC 500V ;
8、频率1GHZ;
9、机械寿命:≥10W次; 

产品特点

在客供的PCB板上装上测试socket,无需客户重新lay板。使用螺丝固定,拆装维修更方便。

接受一件起定制,量大价优


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芯片测试治具

芯片18pin测试治具

芯片测试治具

电源芯片18pin测试治具

电源芯片测试治具

采购:QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

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