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» 搜索:5mm
HMILU测试探针P50-A
产品名称:HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类:测试探针
产品简介:针的外径是0.68mm,总长度为16.
5mm
,测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介...
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HMILU测试探针P50-A
产品名称:HMILU-P50-A、HMILU-PA50-A
所属分类:测试探针
产品简介:针的外径是0.68mm,总长度为16.
5mm
,测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
产品介...
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HMILU测试探针P50-F
产品名称:HMILU-P50-F、HMILU-PA50-F
所属分类:测试探针
产品简介:测试探针外径W为0.68mm,顶针总长为16.5
5mm
测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
...
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HMILU测试探针P50-H
产品名称:HMILU-P50-H、HMILU-PA50-H
所属分类:测试探针
产品简介:测试探针外径W为0.68mm,顶针总长为16.5
5mm
测试探针、顶针、弹簧针、PCB测试针、ICT测试针、测试架探针
...
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测试探针HY-G1353-T
产品名称:HY-G1353-T
所属分类:测试探针
产品简介:HY-G1353-T-T探针、1.36mm测试针、总长36.
5mm
、弹簧针、测试针、顶针、探针
产品介绍(产品概述):
针管:磷铜管...
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新开模晶振3225探针测试座 贴片晶振老化座3225晶振老化座
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根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA
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2、适用封装:QFN40引脚间距0.
5mm
3、测试座:QFN40-0.5
4、特点:采用U型顶针,接触更稳定
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三星手机芯片UFS2.0 BGA95测试座 适配器间距0.6
5mm
可测试的UFS芯片型号:KLUAG2G1BD-E0B2 / KLUBG4G1BD-E0B1 / KLUCG8G1BD-E0B1
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3215-2pin贴片晶振测试座 翻盖探针老化座 3.2×1.
5mm
测试座工厂
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本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片
适配尺寸10.
5mm
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IC测试座下压弹片老化座QFN56(8*8)烧写座0.5间距双触点可定制
本款IC测试座适配QFN封装 56PIN 0.
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间距 芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片,通孔焊接结构,适合批量烧录、老化使用。
更优的价格,更高的品质,新老客户均可放心选购
若...
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一手货源!厂家直销:大量批发:100%全新Socket镀金双接触点弹跳座!
MSOP10-0.5下压弹片烧录座、老化座
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,芯片本体(不含引脚)宽度3mm
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