QFN40 烧录座 0.5间距翻盖测试座艾科编程座单层板|烧录编程座

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QFN40 烧录座 0.5间距翻盖测试座艾科编程座单层板

1、产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
2、适用封装:QFN40引脚间距0.5mm
3、测试座:QFN40-0.5
4、特点:采用U型顶针，接触更稳定

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产品详情产品参数 IC测试座图纸常见问题公司资质

QFN40-0.5翻盖弹片单层板烧录座/QFN芯片测试座

产品简介

1、产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试

2、适用封装:QFN40引脚间距0.5mm

3、测试座:QFN40-0.5

4、特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-40-0.5

引脚间距(mm):0.5

脚位:40

适配芯片尺寸:6*6mm

QFN老化座 qfn测试座 qfn烧录座 qfn ic测试座

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邮箱：liu@hydz999.com
传真：0755-23287415
地址：深圳华强北中电B座三楼3010C

产品名称	QFN40-0.5翻盖弹片老化座
材质	PEI
导电体	弹片
触点压力	30-50g Per Pin
接触阻抗	30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
耐电压	1MinuteATAC700
绝缘电阻	1000 MΩ Min,At DC 500V
额定电流	1 A
机械寿命	150,00 ~ 20,000 Times (Mechanical)
工作温度	From -40℃ to + 155℃

产品编号	适用封装	产品名称	尺寸
70B0000002B	QFN	QFN40-0.5翻盖弹片老化座	6*6

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QFN40 烧录座 0.5间距 翻盖测试座 艾科 编程座 单层板

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