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IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制

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IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制

本款IC测试座适配QFN封装 56PIN 0.5mm间距芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片，通孔焊接结构，适合批量烧录、老化使用。
更优的价格，更高的品质，新老客户均可放心选购
若您在我公司网站未找到适合您芯片的IC测试座产品，可直接联系客服人员，咨询定制

订购热线：13631538587

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IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制

QFN56-0.5翻盖弹片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN56引脚间距0.5mm

测试座:QFN56-0.5

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-56-0.5

引脚间距（mm）：0.5

脚位:56

适配芯片尺寸:8*8mm

QFN芯片适配座 QFN插座 QFN老化座 QFN测试座 QFN编程座 QFN 56测试座

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