QFN64-0.5芯片测试座_IC老化座_翻盖编程座镀金针burn-in Socket

来源：鸿怡电子查看手机网址

扫一扫!

扫一扫!

浏览：- 发布日期：2021-09-10 16:14:44【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN64-0.5芯片测试座_IC老化座_翻盖编程座镀金针burn-in Socket，同时还生产其他IC测试夹具治具。

QFN64-0.5间距翻盖编程测试座

产品简介
产品用途：编程座、测试座，对QFN64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN64引脚间距0.5mm
测试座：QFN64-0.5
特点：底部引出引脚为不规则排列

QFN64芯片编程老化测试座

规格尺寸
QFN64编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：

型号：QFN-64-0.5

引脚间距(mm)：0.5

脚位：64

芯片尺寸：9*9

定制QFP64pin-0.65 14×14合金翻盖测试座

工厂介绍鸿怡电子生产定制QFP64pin-0.65 14×14合金翻盖测试座，同时还生产其他种类齐全...
定制QFP128-0.4-14×14双扣旋钮式手自一体测试座
WLCSP烧录座读写夹具老化座socket带黄铜散热

WLCSP探针测试座
1、工作温度：-40℃~125℃；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：...
定制QFN6-0.5-1.5x1.5-CCP老化座
定制QFN73-0.5-7×7×0.85翻盖探针测试座老化座烧录座夹具

产品特点及性能参数：
采用翻盖式旋钮结构，下压平稳接触稳定；?
高精度的定位槽...