QFN64-0.5芯片测试座_IC老化座_翻盖编程座镀金针burn-in Socket

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浏览：- 发布日期：2021-09-10 16:14:44【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN64-0.5芯片测试座_IC老化座_翻盖编程座镀金针burn-in Socket，同时还生产其他IC测试夹具治具。

QFN64-0.5间距翻盖编程测试座

产品简介
产品用途：编程座、测试座，对QFN64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN64引脚间距0.5mm
测试座：QFN64-0.5
特点：底部引出引脚为不规则排列

QFN64芯片编程老化测试座

规格尺寸
QFN64编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：

型号：QFN-64-0.5

引脚间距(mm)：0.5

脚位：64

芯片尺寸：9*9

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