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QFN10（3*3）下压弹片测试座芯片适配座QFN10老化座0.5间距

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QFN10（3*3）下压弹片测试座芯片适配座QFN10老化座0.5间距

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鸿怡电子提供最全的QFN/MLF/DFN等封装的IC测试/老化测试插座,脚距从0.25mm至1.0mm,常用型号均备有大量现货.严谨的测试、生产工艺,为客户提供优质的QFN/MLF/DFN测试座产品,并可根据客户芯片的规格,测试要求，提供高标准的定制化服务。

QFN10-0.5下压弹片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN10的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN10 引脚间距0.5mm

测试座:QFN10-0.5

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN10-0.5

引脚间距(mm):0.5

脚位:10

芯片尺寸:3*3mm

IC测试座 QFN/MLF测试座老化测试座 QFN/MLF Socket 老化座批发

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