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» 搜索:0.5mm
定制QFN24pin-
0.5mm
-4x4mm合金顶窗下压测试座
QFN24pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:4*4mm
更多 +
定制QFN64pin-
0.5mm
-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座
QFN64pin芯片手自一体测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:10*10mm
适配芯片厚度:1mm
适用芯片ATE自动...
更多 +
定制DFN8pin-
0.5mm
-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座
DFN8pin芯片无磁测试座规格参数:
适用芯片封装形式:DFN/USON/QFN/WSON
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
定制QFN20pin-
0.5mm
-4x4mm芯片测试治具
QFN20pin芯片测试治具规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:4*4mm
更多 +
定制BGA8pin-
0.5mm
-2x2mm芯片塑胶翻盖测试座
BGA8pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
USON8/DFN8pin-
0.5mm
-2X3mm军工级耐高低温芯片老化测试座
DFN8pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装形式:USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:2*3mm
更多 +
定制DDR3-84pin-
0.5mm
-11.5 x7.5mm合金翻盖测试座
DDR3-BGA84pin芯片测试座规格参数:
封装形式:DDR3-BGA
芯片引脚:84pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:11.5*7.5mm
更多 +
定制BGA81pin-
0.5mm
-5x5mm合金翻盖测试座
BGA81pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:81pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:5*5mm
芯片厚度:0.92mm
更多 +
定制DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座
DFN34pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:34pin
芯片引脚间距:0.95mm
适配芯片尺寸:18*18mm
芯片厚度:
0.5mm
更多 +
射频类放大器芯片CQFN24pin-
0.5mm
-4.16x4.16mm塑胶翻盖探针老化座
射频类放大器芯片CQFN24pin老化座规格参数:
芯片封装形式:CQFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:4.16*4.16mm
更多 +
定制BGA218pin-
0.5mm
-9.15x9.15mm合金旋钮翻盖探针测试座
BGA218pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:BGA
芯片引脚:218pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:9.15*9.15mm
芯片厚度:0.982mm
更多 +
定制WLCSP16pin-
0.5mm
-3.11x2.87mm合金下压顶窗烧录座
WLCSP16pin芯片烧录座规格参数:
芯片封装形式:WLCSP
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:3.11*2.87mm
芯片厚度:0.45mm
更多 +
定制QFN20pin-
0.5mm
-3.5x3.5mm合金翻盖探针测试座
QFN20pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:20pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:3.5*3.5mm
芯片厚度:0.75mm
更多 +
定制QFN64pin-
0.5mm
-9x9mm合金翻盖测试座
QFN64pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:9*9mm
更多 +
定制DFN8pin-
0.5mm
-1.2x2.0mm封装芯片下压合金顶窗式测试座
DFN8pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:1.2*2.0mm
更多 +
QFN48pin-
0.5mm
-7x7mm芯片老化测试座
QFN48pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:7*7mm
更多 +
DFN8pin-
0.5mm
-2X2mm芯片老化测试座
DFN8pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多 +
QFN16pin-
0.5mm
-3X3mm芯片老化测试座(带顶针)
QFN16pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:3*3mm
更多 +
QFN40pin-
0.5mm
-6*6mm芯片翻盖老化测试座
QFN40pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:40pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适配芯片尺寸:6*6mm
更多 +
定制LCC48pin-
0.5mm
-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座
LCC48pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:LCC
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:8.5*8.5mm
更多 +
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