鸿怡电子生产定制的QFN24pin-0.5mm-4x4mm翻盖旋钮芯片探针老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN24pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片HAST/HTOL测试
QFN24pin芯片测试座产品间距:
芯片测试电流:500mA
HAST测试:+130°,85%湿度
HTOL测试:温循-55°~+125°,单次满足1000小时
芯片老化座结构:旋钮翻盖式