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» 搜索:0.5mm
定制JFP10pin-1
0.5mm
-1.9mm芯片老化测试座
JFP10pin-1
0.5mm
-1.9mm芯片老化座规格参数:
适用芯片封装类型:SOP/JFP/OTS
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:1.9mm
适配芯片尺寸:1
0.5mm
更多 +
QFP64pin-
0.5mm
-10×10mm下压弹片老化测试座
QFP64pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片本体尺寸:10*10mm
含引脚尺寸:12*12mm
更多 +
QFP100pin-
0.5mm
-14×14mm芯片下压弹片老化测试座
QFP100pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片本体尺寸:14*14mm
含引脚尺寸:16*16mm
更多 +
QFN24pin-
0.5mm
-4x4弹簧翻盖老化座
QFN芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:4*4mm
更多 +
定制QFN32pin-
0.5mm
-5x5mm芯片下压合金探针测试座
QFN芯片探针测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:5*5mm
更多 +
QFP48pin-
0.5mm
-7×7mm芯片下压弹片老化测试夹具
QFP芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:7*7mm
更多 +
QFP80pin-
0.5mm
-12*12mm芯片下压弹片老化座
QFP芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:80pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:12*12mm
更多 +
QFP64pin-
0.5mm
-10×10mm芯片翻盖弹片老化座
QFP芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:64pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:10*10mm
更多 +
QFP48pin-
0.5mm
-7×7mm翻盖弹片老化座-QFP老炼座
QFP48pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:7*7mm
喊引脚尺寸:9*9mm
更多 +
定制QFN84pin-
0.5mm
-7×7mm合金翻盖测试座
QFN84pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:84pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:7*7mm
芯片厚度:0.8mm
更多 +
定制QFP208pin-
0.5mm
-28×28mm合金旋钮双扣式探针测试座
QFP芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:QFP
芯片引脚:208pin
芯片引脚间距:
0.5mm
适用芯片尺寸:28×28mm
含引脚尺寸:30×30mm
更多 +
QFN56pin-
0.5mm
-8×8mm-ZIF625接口烧录座
QFN芯片测试座规格尺寸:
封装型号:QFN-56-0.5
引脚间距(mm): 0.5
脚位:56pin
适配芯片尺寸:8*8mm
更多 +
定制BGA81pin-
0.5mm
-5×5mm合金翻盖测试座
BGA芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:81pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:5×5mm
更多 +
定制QFN24pin-
0.5mm
(3.5×5.5mm)翻盖探针老化座
QFN芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:24pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:3.5×5.5mm
更多 +
新款QFN32pin-
0.5mm
-5X5mm翻盖烧录座
QFN32pin芯片烧录座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:5*5mm
更多 +
定制QFN32pin-
0.5mm
-5x5mm合金旋钮翻盖探针测试座
QFN32pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:5*5mm
更多 +
定制QFN16pin-
0.5mm
-4x4mm翻盖合金探针测试架
QFN16pin芯片测试架规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:4×4mm
更多 +
定制LGA124pin-
0.5mm
-(8.2x1
0.5mm
)合金旋钮探针老化座
LGA124pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:124pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:8.2*1
0.5mm
更多 +
定制TSOP50pin-
0.5mm
-16.6x23mm合金翻盖测试座
TSOP50pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:TSOP
芯片引脚:50pin
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:16.6*23mm
更多 +
定制BGA13pin(实际72pin)-
0.5mm
-4.5x5mm下压合金探针测试座
BGA13pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:13pin(实际下针72pin)
芯片引脚间距:
0.5mm
芯片尺寸:4.5×5mm
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