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QFP32翻盖弹片芯片老化座
产品用途:
编程
座、测试座,对QFP32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFP32、PQFP32、TQFP32,引脚间距0.8mm
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BGA24翻盖弹片转DIP8芯片测试座
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eMMC153/169 eMCP162/186 eMCP221 转USB接口 测试座 三合一套装
产品用途:
编程
座、测试座,对eMMC153/169 eMCP221 eMCP162/186 的IC芯片进行测试、读写
测试方法:
1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放...
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EMMC153/169翻盖弹片转USB芯片测试座
产品用途:
编程
座、测试座,对EMMC153/169的IC芯片进行测试、读写
测试方法
1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内
2.把USB线...
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SM2256主控 BGA152转dip48一拖二测试座
产品用途:
编程
座、测试座,对BGA152的IC芯片进行测试、读取数据
适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0
特点:无需焊接,节约成本
...
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[新闻中心]IC测试:可
编程
晶振是有源晶振?鸿怡电子可
编程
晶振测试座分析
2024年03月13日 15:54
1、可
编程
晶振,根据鸿怡电子晶振测试座工程师介绍:是一种可以通过
编程
进行调节和控制的晶振器。它采用先进的数字信号处理技术,具有频率可调、相位可调、稳定性好等特点。与传统的有源晶振相比,可
编程
晶振在频率调节范围和调节精度上更加强大和灵活。 2、有源晶振又是什么呢?有源晶振是一种通过外部电源(一般为直流电源)驱动的晶振器。它一般采用基准频率的振荡电路,通过驱动电源的变化来调节晶振的频率。有源晶振具有频率稳定、使用方便等优点,广泛应用于各个领域。 对比可
编程
晶振和有源晶振,最明显的
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[新闻中心]1分钟带您了解芯片烧录座和芯片烧录设有什么区别?
2023年02月20日 14:27
注意:
编程
烧录器、芯片烧录座(烧写座、清空座、
编程
座、烧录转接座、逻辑测试座、DIP烧录座)烧录夹等都是烧录设备中的一种 芯片烧录座: 半导体芯片烧录座、IC烧录座,是一款操作简便、效率高的连接器设备,简单理解:不管是烧录座、烧录夹又或者是测试座、老化座,其本质都是一款连接器,只是根据不同的封装测试所使用的测试座夹具不同。如SOP烧录座、MSOP烧录座、QFP烧录座、QFN烧录座、BGA烧录座、EMMC烧录座、邮票孔模块烧录座等等全系封装芯片烧录座socket。 芯片烧录座适
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[新闻中心]浅聊芯片老化测试、芯片烧录,IC测试以及对应的座子定义!
2022年11月30日 11:40
鸿怡电子IC老化座/老炼座/老化测试socket
IC烧录座/
编程
座/快速夹/读写座/清空座
IC测试座/测试座socket/测试插座
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[鸿怡动态]7050(7.0×5.0mm)-4PIN晶振探针老化座
2022年11月21日 10:41
晶振老化座简介 一、用途:老化座、测试座,对7050(7.0*5.0)的IC芯片进行高低温老化测试 二、适用封装: 7050(7.0*5.0)-4PIN贴片晶振 三、探针结构,接触稳定、体积小。 四、采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长 五、镀金层加厚,触点加厚电镀,超低接触阻抗、高可靠度,使用寿命(翻盖结构20000次) 六、鸿怡电子可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD档 规格尺寸 一、型号:7050(7.0*5.0)-4PIN 二、脚位:4 三、芯片尺寸:7
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[鸿怡动态]下压式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片测试座
2021年10月18日 14:42
工厂介绍 鸿怡电子生产下压式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途:
编程
座、测试座,对QFN20的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN20 引脚间距0.4mm测试座:QFN20-0.4特点:采用U型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:QFN-20-0.4引脚
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[鸿怡动态]QFN28-0.4芯片测试座_烧录座_
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座_QFN芯片老化座
2021年10月18日 11:35
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN28-0.4芯片测试座_烧录座_
编程
座_QFN芯片老化座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途:
编程
座、测试座,对QFN28的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN28引脚间距0.4mm测试座:QFN28-0.4特点:采用U型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:QFN-28-0.4引脚间距(mm):0.4脚位
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[鸿怡动态]QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_
编程
座
2021年10月18日 11:29
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_
编程
座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途:
编程
座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN32引脚间距0.5mm测试座:QFN32-0.5特点:底部引出引脚为不规则排列 规格尺寸QFN32
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座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:
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[鸿怡动态]QFN3X3-16L(0.5)带顶针镀金老化座_
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座_烧录夹具插座
2021年10月18日 11:10
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN3X3-16L(0.5)带顶针镀金老化座_
编程
座_烧录夹具插座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 老化测试座QFN3X3-16L(0.5)带顶针镀金老化座
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座烧录夹具插座适配封装:QFN封装-16PIN间距:0.5mm尺寸:3*3mm
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[鸿怡动态]定制IC测试座_QFN56(8×8)0.5间距下压弹片老化座_烧写座
2021年10月18日 11:02
工厂介绍 鸿怡电子生产定制IC测试座_QFN56(8×8)0.5间距下压弹片老化座_烧写座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途:
编程
座、测试座,对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.5mm测试座:QFN56-0.5特点:采用U型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.5引脚间距(
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[鸿怡动态]QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器
编程
座_IC转换插座
2021年10月14日 11:04
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN84老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器
编程
座_IC转换插座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途:
编程
座、测试座,对QFN84的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN84 引脚间距0.4mm测试座:QFN84-0.4特点:采用U型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:QFN-84-0.4引脚间距(mm):
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[鸿怡动态]QFN80-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_
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座IC549-0604
2021年10月14日 10:50
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN80-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_
编程
座IC549-0604,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介A、产品用途:
编程
座、测试座,对QFN60的IC芯片进行烧写、测试B、适用封装:QFN80引脚间距0.4mmC、测试座:QFN80-0.4D、特点:采用U型顶针,接触更稳定E、我司可提供规格书(布板图),PD
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[鸿怡动态]QFN76老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器烧写座
2021年10月14日 10:35
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN76老化座_0.4间距翻盖弹片测试座_适配器烧写座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途:
编程
座、测试座,对QFN76的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN76 引脚间距0.4mm测试座:QFN76-0.4特点:采用U型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:QFN-76-0.4引脚间距(mm):0.4脚位:
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[鸿怡动态]QFN72-0.5翻盖弹片测试座_qfn72老化座_
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器测试座
2021年10月14日 10:19
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN72-0.5翻盖弹片测试座_qfn72老化座_
编程
器测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。 产品简介产品用途:
编程
座、测试座,对QFN72的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN72引脚间距0.5mm测试座:QFN72-0.5特点:底部引出引脚为不规则排列 规格尺寸QFN72
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座/测试座适用芯片详细规格,以及适
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[鸿怡动态]QFN60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖
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座_镀金弹片
2021年10月13日 11:30
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖
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座_镀金弹片,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等 产品简介产品用途:
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座、测试座,对QFN60的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN60引脚间距0.4mm测试座:QFN60-0.4特点:采用U型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:QFN-60-0.4引脚间距(mm):0.4
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[鸿怡动态]QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G
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座
2021年10月13日 11:16
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G
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座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等 产品简介产品用途:
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座、测试座,对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.4mm测试座:QFN56-0.4特点:采用U型顶针,接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.4引脚间距
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