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QFN80-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座IC549-0604

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浏览：- 发布日期：2021-10-14 10:50:22【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN80-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座IC549-0604，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。

QFN80编程测试座

产品简介

A、产品用途:编程座、测试座，对QFN60的IC芯片进行烧写、测试

B、适用封装:QFN80引脚间距0.4mm

C、测试座:QFN80-0.4

D、特点:采用U型顶针，接触更稳定

E、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

规格尺寸

A、型号:QFN-80-0.4

B、引脚间距(mm):0.4

C、脚位:80

D、芯片尺寸:9*9

QFN80-0.4间距翻盖IC测试座

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