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定制SOP88-1.27双扣旋钮
测试座
芯片老化座 测试治具
专业定制各类IC测试座、测试治具、老化座
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SOP封装,88pin 1.27间距
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定制CLCC44-1.27
测试座
合金翻盖探针老化座编程座 ic座
适用封装芯片为:CLCC44pin 间距为1.27mm 尺寸:16.5*16.5m
根据客户需求,上盖和底盖均需要做避空处理
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厂家定制CQFP208芯片
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定制QFP老化座
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新开模晶振3225探针
测试座
贴片晶振老化座3225晶振老化座
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3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座
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BGA254翻盖弹片转SD
测试座
手机资料读写 EMCP254编程座
产品均有尺寸图纸,如有需要请联系客服提供!
BGA/eMCP254翻盖弹片转SD接口测试座
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工厂定制LPDDR4X
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合金翻盖探针座 IC
测试座
ICsocket编程座
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手机芯片UFS2.0 2.1
测试座
合金探针老化座 翻盖式插座 UFS编程座
可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上,直接将socket精准的固定在产品之上,无需layout,大大降低测试成本,广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。
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QFN64-0.4 8*8mm 芯片
测试座
翻盖老化座 烧录座
产品用途:编程座、测试座
适用封装:QFN64 引脚间距0.4mm 芯片尺寸8×8mm
测试座:QFN64-0.4
特点:采用U型顶针,接触更稳定
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BGA784芯片
测试座
定制BGA测试socket
材质: PES,PEI
导电体: 镀金探针
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QFN48射频IC
测试座
定制QFN48socket QFN48合金探针测试座
适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用
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根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA
采用进口探针,测试寿命可达8-10W次
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定制BGA169
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BGA169socket BGA169
测试座
IC测试座BGA测试
可根据客户需求定制各类IC测试socket、IC测试治具
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WSON烧录座 DFN10 4*3mm 0.5间距翻盖探针
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下压弹片老化座 bga100 IC
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深圳市鸿怡电子技术有限公司是一家18年专注研发、生产、销售各类BGA/QFN/QFP/SOP等IC的Burn-in Socket和Test Socket
bga100下压弹片老化座尺寸12*18/14*18mm
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定制SOP2509摄像头芯片ATE
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1、此款测试座适用于自动烧录、测试机台.可设计成翻盖/手自一体的结构,定位精准,操作方便;
2、采用进口镀金探针和防静电材料(Torlon\pei\pps\peek) 对残球、锡球不匀的IC都能精确接触。
3、SOCKET只...
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定制QFP144
测试座
QFP芯片
测试座
IC测试座工厂直销
1、应用Pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8pitch等
2、材料:FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+Ceramic
3、适用封种:BGA/QFP/QFN/WCSP等
4、结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、Open-top
5、接触方式:探针...
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定制QFP176-0.4 芯片
测试座
翻盖双扣旋钮测试治具
工厂直销,QFP176-0.4合金翻盖测试座;
可根据客户需求定制不同封装、间距、尺寸的IC测试座;
欢迎来图,来电咨询洽谈;
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QFN40 烧录座 0.5间距 翻盖
测试座
艾科 编程座 单层板
1、产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
2、适用封装:QFN40引脚间距0.5mm
3、测试座:QFN40-0.5
4、特点:采用U型顶针,接触更稳定
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QFN68-0.4 芯片8×8mm
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翻盖老化座 空座 编程座
产品用途:编程座、测试座
适用封装:QFN68 引脚间距0.4mm 芯片尺寸8×8mm
测试座:QFN68-0.4
特点:采用U型顶针,接触更稳定
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eMMC5.0转USB3.0
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鸿怡电子新品强势推出,天津瑞发科主控,EMMC5.0测试座支持HS200,实测数据跟芯片密切相关,以下实测数据为H2testw测试报告:
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