定制CLCC44-1.27测试座合金翻盖探针老化座编程座 ic座|精密定制IC测试座

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定制CLCC44-1.27测试座合金翻盖探针老化座编程座 ic座

适用封装芯片为：CLCC44pin 间距为1.27mm 尺寸：16.5*16.5m
根据客户需求，上盖和底盖均需要做避空处理

订购热线：13631538587

产品详情

产品特点：

1、本品为翻盖结构合金探针测试座；
2、适用于间距为1.27mm的clcc封装芯片；
3、紧凑的设计和较小的测试压力；
4、独特的结构避免卡球；
5、可更换限位框，高精度的定位槽和导向孔，测试准确无误；
6、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试；
7、人性化设计，探针可更换，便于拆卸、维护，降低测试成本；
8、进口探针、工程材料结合高精度制作设备，socket测试更稳定，使用寿命更长。

产品参数：

适用封装芯片为：CLCC44pin 间距为1.27mm 尺寸：16.5*16.5mm

1、绝缘抗阻: 1000MΩ Min.At DC 500V
2、耐电压： 1 Minute At AC 700V 3、接触抗阻： 30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial)
4、额定电流: 1A 频率：1G以内
5、工作温度： -40℃~+175℃
6、接触压力： 8-10g Pin (Normal)
7、使用寿命： 15,000 Times (Mechanical)
8、工作压力： 2.0 Kg MAX