您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
新浪微博
|
微信关注
|
收藏本站
|
在线留言
|
网站地图
“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
全国服务热线:
13632719880
首页
大电流微针模组
DDR测试夹具
定制IC测试座
BGA测试座
QFN测试座
QFP测试座
自动测试座
SENSOR测试座
TSOP/SOP测试座
其它IC测试座
电源IC测试座
触摸IC测试座
产品
案例
资讯
品牌
采购
联系
人才招聘
热门关键词:
测试座
老化座
烧录座
测试座厂家
当前位置:
首页
»
全站搜索
» 搜索:芯片测试
BGA107-0.8下压弹片
芯片测试
老化座
产品用途:测试座,对BGA107的IC芯片进行测试、数据读写
适用封装:BGA107 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA107-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
更多 +
BGA48-0.8下压弹片
芯片测试
老化座
产品用途:IC测试座、IC老化座,对BGA67的IC芯片进行测试、数据清空;
适用封装:BGA48 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA48-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
更多 +
BGA67-0.8下压弹片
芯片测试
老化座
产品用途:测试座,对BGA67的IC芯片进行测试、数据清空
适用封装:BGA67 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA67-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
更多 +
SSD一拖四慧荣SM2256K主控 转DIP48测试板
此板采用慧荣SM2256K主控,可以兼容BGA152/132/88/100、TSOP48等多种封装闪存芯片转DIP48测试。测试版已焊接好TSOP48端子板,测试座可随意插拔互换。
更多 +
eMCP221合金翻盖探针转SD接口IC测试座
eMCP221 翻盖合金探针转SD接口 测试座 我司致力于eMCP221 FBGA221测试解决方案 欢迎厂家、芯片封装厂来电咨询、合作 用起来像U盘一样简单!
更多 +
BGA24翻盖弹片转DIP8
芯片测试
座
BGA24翻盖转DIP8测试座 新款双层转板,方便插入编程器锁紧座、更方便取放芯片等操作。
更多 +
SOP16(16)-1.27下压弹片
芯片测试
老化座
绝 缘 体: PEI、PPS
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
更多 +
SOP14(16)-1.27
芯片测试
老化座
绝 缘 体: PEI、PPS
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
更多 +
SOP8(16)-1.27
芯片测试
老化座
绝缘体: PEI、PPS
弹 片: 铍铜
寿 命: 1.5万次
工作温度: -60℃~155℃
更多 +
QFN40-0.4翻盖弹片IC测试老化座
产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN40引脚间距0.4mm
测 试 座:QFN40-0.4
特 点:采用U型顶针,接触更稳定
更多 +
QFN32-0.5翻盖弹片
芯片测试
座
产品用途: 编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFN32引脚间距0.5mm
测 试 座: QFN32-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
更多 +
QFN32翻盖弹片双层转板IC烧录座
产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN32引脚间距0.5mm
测 试 座:QFN32翻盖弹片烧录座
更多 +
QFN24-0.5 双层板
芯片测试
座
产品用途:编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFN24引脚间距0.5mm 测 试 座:QFN24-0.5 特 点:采用U型顶针,接触更稳定
更多 +
QFN16-0.5翻盖弹片
芯片测试
座
产品用途:编程座、测试座,对QFN16的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN16 引脚间距0.5mm
测试座:QFN16-0.5
特点:采用U型顶针,接触更稳定
更多 +
QFP48下压弹片芯片老化座 QFP测试座
产品用途: 编程座、测试座,对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装: QFP48、PQFP48、TQFP48,引脚间距0.5mm
测 试 座: QFT-48-0.5-06
特 点: 四周按芯片顺序引出所有引脚
更多 +
eMMC153/169下压弹片转USB接口
芯片测试
座
1. 采用弹片下压转SD接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容153PIN和169PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚...
更多 +
eMCP162/186下压弹片转USB接口IC测试座
1. 采用弹片下压转USB接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容162PIN和186PIN.
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
6. 压力可以调整结构,可以兼容IC厚...
更多 +
eMMC/eMCP四合一金属探针座转USB3.0接口
1. 采用翻盖探针转USB3.0接口结构。
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 兼容eMMC100、eMMC153/169、eMCP162/186、eMCP221 .
4. 准确定位测试焊盘及锡球.
5. 高品质、使用寿命长、性能稳定...
更多 +
BGA24翻盖弹片转DIP8
芯片测试
座
更多 +
eMMC153/169通用socket+转接板芯片分析座—新结构
1、eMMC 153 /169 ball ptich:0.5
2、频率F:1600MHZ
3、外形尺寸:25mm×25mm×4mm
4、避空高度:2mm(用于避空集成电路周围的元器件)
3、适用于:sandisk、三星等各类eMMC颗粒
PCBA...
更多 +
首页
上一页
<...
34
35
36
37
38
39
40
41
42
43
...>
下一页
尾页
相关搜索
CIS芯片测试
缓存芯片测试座
存储芯片测试座
主控芯片测试座
SSD芯片测试座
QFP芯片测试座
热点聚焦
鸿怡电子测试座的应用介绍
测试座就是一种具有测试...
探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...
BGA测试座具有哪些特点?...
1
电子产品寿命短?HAST老化试验做了吗?
2
寻找志同道合的工作伙伴!
13632719880
在线客服