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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: LPDDR221芯片测试 LPDDR221 SOCKET LPDDR221带板焊接座

1、无需客户lay板，直接采用客户提供的产品板，验证准确，最高主频率可以5GHZ； 2、socket只要四颗螺丝便可拆下，探针可以跟换，维护简单方便； 3、白色限位框，可以更换，适用于不同尺寸...
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: PLCC20测试座IC插座 ic老化生产厂家 PLCC SOCKET PLCC老化插座

定制PLCC合金翻盖IC测试座
1、可单独提供socket和布板图供客户做测试板；
2、客户提供现成的PCBA板，我公司直接将socket精准的固定在产品板之上，无需layout,大大降低测试成...
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: iphone苹果手机前后摄像头、尾插、触摸显示屏FPC连接器测试架

苹果4/4S摄像头、尾插、侧键测试治具 iphone苹果4S、5前后摄像头测试专用治具 iphone苹果4S、5 尾插测试架此为定制产品，如需定做请先与我公司销售人员联系沟通，多谢支持！
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: 定制BGA784芯片测试座精密定制IC测试座 BGA测试座

BGA芯片测试座，适配BGA封装的784PIN芯片
可根据客户需求定制各类IC测试座\IC test socket
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订，欢迎有需要的客户咨询洽...
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: 定制BGA256-0.8 芯片测试座精密定制IC测试座 BGA测试座

BGA芯片测试座，适配BGA封装的256PIN芯片，间距0.8mm
芯片尺寸17mm*17mm
可根据客户需求定制各类IC测试座\IC test socket
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
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: WLCSP49-0.4间距测试座IC测试治具QFN/BGA49烧录座原厂定制

本款测试座适配WLCSP封装的49PIN芯片，PIN脚间距0.4mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订，欢迎有需要的客户咨询洽谈
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: 客制品-BGA676-1.0合金翻盖旋钮测试座

厂家定制各类芯片的测试座、老化座
本产品适用于BGA封装的676球芯片，间距1.0mm
适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
一个起订，欢迎有需要...
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: IC测试座下压弹片老化座QFN56（8*8）烧写座0.5间距双触点可定制

本款IC测试座适配QFN封装 56PIN 0.5mm间距芯片尺寸为8mm*8mm的芯片
开模弹片，通孔焊接结构，适合批量烧录、老化使用。
更优的价格，更高的品质，新老客户均可放心选购
若您在我公司网站未找到适合您...
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: EMCP162/186一拖32自动机台测试座

定制产品，适配emcp162/186 封装芯片可设计任意一拖几结构；
自动测试socket
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: QFN44-0.4 ATE测试座适用于自动机台测试烧录

定制产品，适配QFN44PIN, 0.4间距的QFN系列芯片
自动测试socket
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: eMMC153 eMMC169 ATE测试座BGA系列机器测试座

新定制：是产品描述：EMMC ATE测试座适用于自动机台测试
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: 5032-2pin贴片晶振测试座

一、产品用途:老化座、测试座，对5032(5.0*3.2)的IC芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振
三、探针结构，接触稳定、体积小。
四、采用特殊的工程塑...
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: 2520-4pin贴片晶振测试座

一、产品用途:老化座、测试座，对2520(2.5*2.0)的IC芯片进行高低温老化测试
二、适用封装: 2520(2.5*2.0)-4PIN晶振
三、探针结构，接触稳定、体积小。
四、采用特殊的工程...
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: 定制BGA一拖四翻盖探针测试治具

产品数据：
1、应用Pitch：0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料：FP4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+CeramIC
3、适用封装：BGA/QFP/QFN/WSCP等
4、结构：双扣、翻...
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: EMCP221翻盖旋钮分析测试座+转接板

无需客户lay板，直接采用客户提供的产品板，验证准确，最高主频率可以5GHZ；
socket只要四颗螺丝便可拆下，探针可以跟换，维护简单方便；
白色限位框，可以更换，适用于任何尺寸...
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: SM2256K主控转BGA316合金翻盖一拖二测试治具

BGA316/TSOP48一拖二测试座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形...
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: 7050-4PIN单面弹晶振老化座

产品数据:
1、材料：PEI
2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3GHZ
4、结构：Open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°C～175°C<...
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: 5032-4PIN单面弹晶振测试座

产品数据:
1、材料：PEI
2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3GHZ
4、结构：Open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°C～175°C<...
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: 贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座

产品数据: 1、材料：PEI 2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm 3、最高频率：>9.3GHZ 4、结构：Open-top/翻盖 5、接触方式：探针 6、工作温度：-55°C～175°C 探针接触细节更多 +

: SMI2246一拖二转BGA152/132双面弹测试治具

产品特点：可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等的双面弹测试座都可以随意更换
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