贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座|晶振测试座

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贴片晶振2016-4PIN晶振双面弹测试座

产品数据: 1、材料：PEI 2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm 3、最高频率：>9.3GHZ 4、结构：Open-top/翻盖 5、接触方式：探针 6、工作温度：-55°C～175°C 探针接触细节产品特点： 1、采用开模Socket+探针的结构，大大降低设计、加工成本，降低了使用费用 2、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对 IC进行有锡球、无锡球不同测试 3、交期快，最快1天交货，提高使用效率 4、进口探针配合高精度模具，Socket测试更稳定，使用寿命更长

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产品详情

产品数据:

1、材料：PEI

2、适用IC尺寸：1.5x1.5～12x12mm
3、最高频率：>9.3GHZ
4、结构：Open-top/翻盖
5、接触方式：探针
6、工作温度：-55°C～175°C
探针接触细节
产品特点：
1、采用开模Socket+探针的结构，大大降低设计、加工
成本，降低了使用费用
2、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对
IC进行有锡球、无锡球不同测试
3、交期快，最快1天交货，提高使用效率

4、进口探针配合高精度模具，Socket测试更稳定，使用寿命更长

2016晶振老化座规格书如下：

2016晶振老化座规格书