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: 定制LGA32pin-0.5mm芯片ate测试座

SPECIFICATION1绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:20,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX9、中心引脚间距:0.5mm10、适配芯片尺寸:5*5mm

: 定制LCC48pin光电模块自动化ate测试座

支持频率：≤200Mhz温度范围：-45℃-125℃操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大额定电流：单PIN1Amax接触电阻：≤50毫欧绝缘电阻：DC500V1000兆欧以上机械寿命：>1.5万次中心引脚间距:1.0mm适配光电模块尺寸:16.4*16.4mm模块实际下针20pin

: 定制LGA12pin-0.5mm芯片自动化ate测试座

SPECIFICATION1绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:20,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX9、中心引脚间距:0.5mm10、适配芯片尺寸:2*2mm

: 定制LCC32pin-1.27mm自动化ate测试座

支持频率：≤200Mhz温度范围：-45℃-125℃操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大额定电流：单PIN1Amax接触电阻：≤50毫欧绝缘电阻：DC500V1000兆欧以上机械寿命：>1.5万次中心引脚间距:1.27mm适配芯片尺寸:14*11.5mm

: 芯片 ATE 测试座:自动化测试的 “连接中枢”-鸿怡电子

芯片 ATE（AutomaticTestEquipment）自动化测试系统中，芯片测试座是连接芯片与测试设备的关键桥梁，其接触性能、环境适配性与寿命特性直接决定测试有效性。作为 “可复用的测试接口”，它不仅要实现信号与电力的精准传输，更需适配老化、测试、烧录等多场景的严苛需求。鸿怡电子通过模块化设计与特种材料应用（PEI壳体、铍铜弹片等），构建了覆盖全流程的芯片ate测试座解决方案，成为行业典型参考范本。

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