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定制QFP208pin-0.65mm<i style='color:red'>芯片测试治具</i>_副本

定制QFP208pin-0.65mm芯片测试治具_副本

QFP芯片测试治具产品特点及规格Socket本体:合金翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:单pin过流1A使用温度:-45°C-+175*C机械寿命:30000次(机械测试)
定制QFP112pin-0.65mm<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制QFP112pin-0.65mm芯片测试治具

QFP芯片测试治具产品特点及规格Socket本体:合金翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:单pin过流1A使用温度:-45°C-+175*C机械寿命:30000次(机械测试)
定制BGA895-0.8-25x25mmCPU<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制BGA895-0.8-25x25mmCPU芯片测试治具

SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、测试治具结构:旋钮翻盖式10、测试架材料:合金+PEEK11、中心引脚间距:0.8mm12、适配芯片尺寸:25*25mm
定制DDR-BGA178ball内存<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制DDR-BGA178ball内存芯片测试治具

绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin工作温度:-55°℃~+155°C最高测试速率:5800Mhz(仅DDR5高速测试)操作力:15~30g/PinMAX支持封装:LPDDR3/BGA178ball手机存储芯片规格参数:P0.65mm-11.5x12.5mm
DDR96pin-0.8mm<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

DDR96pin-0.8mm芯片测试治具

绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin工作温度:-55°℃~+125°C最高测试速率:5800Mhz(仅DDR5高速测试)操作力:15~30g/PinMAX支持封装形式:DDR96pin/BGA96pin
定制BGA484pin-1.0mm<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制BGA484pin-1.0mm芯片测试治具

SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、测试治具结构:旋钮翻盖式10、测试架材料:合金+PEEK11、中心引脚间距:1.0mm12、适配芯片尺寸:23*23mm
定制BGA216pin-0.8mm<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制BGA216pin-0.8mm芯片测试治具

SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+125°C7、使用寿命:大于25,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX(根据下针数量)9、测试治具结构:旋钮翻盖式10、测试架材料:合金+PEEK11、中心引脚间距:0.8mm12、适配芯片尺寸:16*16mm
定制LPDDR4-BGA200ball<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制LPDDR4-BGA200ball芯片测试治具

绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin工作温度:-55°℃~+155°C最高测试速率:5800Mhz(仅DDR5高速测试)操作力:15~30g/PinMAX支持封装:LPDDR4/BGA200ball手机存储芯片规格参数:P0.8mm-10*15mm
定制DDR4-BGA96pin-0.8mm<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制DDR4-BGA96pin-0.8mm芯片测试治具

绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin工作温度:-55°℃~+155°C最高测试速率:5800Mhz(仅DDR5高速测试)操作力:15~30g/PinMAX支持封装:DDR4/BGA96ball测试治具结构:支持一拖二工位、一拖四工位以及多工位测试
定制QFP100pin<i style='color:red'>芯片测试治具</i>

定制QFP100pin芯片测试治具

QFP芯片测试治具产品特点及规格Socket本体:合金翻盖式探针材料:铍铜探针镀层:镍金操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗:50mΩmax耐压测试:700VACforlminute绝缘阻抗:1000m500VDC最大电流:单pin过流1A使用温度:-45°C-+175*C机械寿命:30000次(机械测试)