IC/芯片测试座国产替代方案厂商

热搜关键词: 定制IC测试座 IC老化板 模块测试座 SSD-flash存储

上一页
下一页

定制BGA测试座

定制BGA测试座

定制BGA测试座

BGA socket

BGA测试治具

定制BGA489(下95pin)-0.5 合金旋钮翻盖探针测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-55°C ~+155°C
7、机械寿命:大于10万次
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:合金翻盖式
10、测试座材料:AL6061+peek
11、中心引脚间距:1.4mm
12、适配芯片尺寸:13.55x10.5mm

联系工程师:电话微信同号:13823541217(张工)

服务热线: 13631538587
深圳鸿怡电子生产定制BGA489(下95pin)合金旋钮翻盖探针测试座socket产品简介

🔹 产品简介

设计:鸿怡电子  HMILU 

封装:BGA489-0.5mm 

尺寸:13.5x12.25x3.25 mm

结构:翻盖+旋钮,压合过程受力均匀

材质:铝合金外壳+Peek针板+镀金探针

用途:芯片设计,广泛应用于芯片测试、老化、烧录等场景

优点:无损伤接触,信号稳定,适用研发与量产,维护成本低

生产:鸿怡电子 HMILU 

🔹 核心优势

  • 均匀导通:触点受力均匀,保障信号完整性
  • 精密适配:完美兼容 0.5mm 间距 ,BGA48封装,对位精准
  • 便捷操作:翻盖式结构,快速取放芯片,提升测试效率
  • 高度定制:支持非标芯片测试座定制,适配不同封装尺寸、功能需求
  • 稳定耐用:探针寿命长,适合研发与批量生产
BGA489-0.5mm芯片图纸

芯片

BGA489(下95pin)-0.5mm 芯片 测试座图纸

座子

BGA489(下95pin)-0.5mm 芯片测试座socket产品展示
  • resource/images/6bcccc0ceb634e36ab1a49ce063b4033_20.jpg
    BGA489测试座
  • resource/images/6bcccc0ceb634e36ab1a49ce063b4033_22.jpg
    FBGA测试座
  • resource/images/6bcccc0ceb634e36ab1a49ce063b4033_24.jpg
    BGA测试socket
  • resource/images/6bcccc0ceb634e36ab1a49ce063b4033_26.jpg
    BGA测试夹具
  • resource/images/6bcccc0ceb634e36ab1a49ce063b4033_28.jpg
    BGA FT socket
  • resource/images/6bcccc0ceb634e36ab1a49ce063b4033_30.jpg
    BGA功能测试座
采购: 定制BGA489(下95pin)-0.5 合金旋钮翻盖探针测试座
    • *

咨询热线

0755-83587595