精密定制IC测试座
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定制BGA292pin-0.8mm-17x17mm芯片老化测试座socket,芯片老炼测试夹具
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定制PGA123pin-1.27mm-54.6x24.5mm合金双扣式芯片测试座（手自一体测试socket）
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定制LCC32pin-1.27mm-14x11.5mmATE自动化测试座socket
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定制BGA84pin-0.8mm-8x12.5mm合金翻盖芯片测试座,bga芯片测试夹具
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定制BGA96pin-0.8mm-9x13.5mm合金翻盖芯片测试座,存储芯片测试socket
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DFN6（实际下针9pin）-0.5mm-1.5×1.5mm合金翻盖式探针芯片测试座,芯片测试夹具
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定制晶圆级WLCSP16pin-0.4mm-0.83x3.9mm塑胶翻盖探针芯片测试座
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定制BGA1275（下568PIN）-0.5mm-20.5×18.5mm合金旋钮探针光电模块测试座socket
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定制LCC48pin-0.8mm-11×11×1.5mm合金探针测试座socket,芯片测试夹具
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定制LGA122pin-1.5mm-30.5×28mm×2.8mm合金旋钮探针射频模块测试座,模块测试夹具
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定制QFN58pin-0.35mm-6×6mm合金下压探针芯片测试座socket,芯片测试夹具
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定制BGA83pin-0.7mm-10×5.6mm翻盖探针摄像头CMOS芯片测试座socket,芯片测试夹具
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定制sop8pin-1.27mm-4.9×6mm合金翻盖芯片测试座socket,sop芯片测试夹具
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定制QFP64pin-0.5mm-12×12mm合金双扣旋钮测试座socket,qfp芯片测试夹具
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定制LCC6pin-1.4mm-7.69×5.54mm合金翻盖探针模块老化测试座
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定制QFN12pin-1.0mm-5.15×5.15mm塑胶翻盖芯片测试座
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定制QFN64pin-1.71mm-30.48x30.48m.0m合金双扣式芯片测试座
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定制LGA24pin-0.45mm-4x6mm下压合金顶窗式测试座
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定制SSOP20pin-0.5mm-4.9x5.1mm塑胶翻盖老化测试座socket
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定制射频模块24pin-1.5mm-18x18mm合金翻盖探针测试座socket
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