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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: EMMC153（实际下针83pin）ATE自动化一拖双工位芯片测试座socket

EMMC153pin芯片ATE自动化测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
支持芯片封装形式：EMMC/BGA
芯片引脚：153pin（实际下针83pin）
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：11.5*13mm<...
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: HMILU-FPC11pin-0.6mm连接器微针模组测试座

FPC11pin连接器微针模组测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
FPC connector
连接器引脚：11pin
连接器错位引脚间距：0.6mm
连接器同行引脚间距：0....
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: HMILU-TO247-3pin-5.44mm-15.7×41.015mm合金翻盖功率器件测试座

功率器件TO247-3L测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
功率器件封装：TO247
功率器件引脚：3pin
功率器件引脚间距：5.44mm
适配功率器件尺寸：15*41mm
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: TOLL9PIN-1.2mm-9.9×11.68mm合金旋钮翻盖分立器件测试座

TOLL9pin分立器件测试座规格参数信息：
生产品牌：HMILU
封装类型：TOLL
器件引脚：9pin
引脚间距：1.2mm
适配分立器件尺寸：9.9*11.68mm
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: 功率元器件TO252-5pin-1.143mm-本体6.095mm开尔文合金翻盖测试座

功率器件TO252-5L测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
封装类型：TO252
器件引脚：5L
引脚间距：2.286mm
含引脚尺寸：9.9mm
器件本体尺寸：6.095
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: TO252-3PIN-2.286mm-6.8x7.1mm合金翻盖测试座

TO252-3L功率器件测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TO252
器件引脚：3pin
引脚间距：2.286mm
适配尺寸：6.8*7.1mm
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: TOLL9pin-1.2mm-9.9X11.68mm合金旋钮翻盖测试座

TOLL9pin功率器件测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TOLL
器件引脚：9pin
引脚间距：1.2mm
适配器件尺寸：9.9mm
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: TO252-5L-1.27（本体5.5x6.5mm)翻盖探针老化座

TO252-5L探针老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.27mm
适配尺寸：5.5*6.5mm
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: 高温高湿HAST/HTOL实验TO252-5L老化板

TO252-5L老化板+老化座
品牌：HMILU
封装类型：TO252
适用于：HAST/HTOL测试，高温高湿测试
burn in test socket
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: 功率器件TO252-3L(252-30单工位，4PIN）翻盖老化测试座

TO252-3工位4pin老化座规格参数：
功率器件封装形式：TO252
引脚：4pin
引脚间距：2.24mm
本体尺寸：5.15mm
喊引脚尺寸：6.54mm
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: 定制TO247-3pin-5.44mm合金翻盖测试座

TO247-3L测试座规格参数：
封装形式：TO247
引脚：3pin
间距：5.44mm
本体尺寸：16mm
含引脚尺寸：41mm
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: TO247-3L车规级功率器件下压老化测试座

TO247-3L功率器件老化座规格参数：
封装类型：TO247
引脚：3pin
引脚间距：2.54mm
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: TO277B-3L-SMC5翻盖老化座

TO277B老化测试座规格参数：
封装类型:TO
IC间距:1.8mm
IC本体尺寸:5.4mm
IC含脚尺寸:6.5mm
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: 新款TO247-4pin老炼座-TO老化座

TO247器件老化测试座规格参数：
器件封装类型：TO247
引脚：4pin
引脚间距：5.44mm
测试座类型：下压式
适用场景：老化/测试/烧录
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: AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座

车规级功率器件老化座规格参数：
适配IC封装:TO247
pin脚数：3pin
引脚中心距：5.44mm
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: 定制TO252-5pin合金翻盖老化座

TO252-5pin老化测试座规格参数：
封装类型：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.14mm
本体尺寸：6.4mm
含引脚尺寸：10.6mm
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: BGA77封装器件测试座老化座老炼夹具治具 socket DC电源管理IC

产品简介：BGA77封装器件老化座老炼夹具
BGA77老化座参数
1、工作温度：-40℃~125℃；
2、针板材质：Torlon；外壳材质：PEI；
3、探针镀覆：3μ" Au over 50-100μ" Ni；
4、单PIN额定电压...
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: TO247-3L老化插座老化夹具高温老炼socket治具 MOSFET功率被动器件老化

产品简介：
特点：采用摇杆所锁紧设计方式，相对传统的拔插式可以降低器件的摩擦损伤。
特性：温度-45-175℃，电流80A，频率无要求，接触阻抗小于30毫欧，耐压1000V DC。
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: 定制QFN40-0.35自动化open top socket 烧录座夹具读写编程测试座

测试座（夹具）特性
①结构：下压式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越...
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: 定制大电流 BTB公座 Connector 弹片微针模组测试座

产品简介
用途：应用于BTB公座Connector测试，应用于各种3C产品连接器ZIF，BTB连接器公母头等测试项目。
特点：25A大电流设计
材料：镀镍金铍铜、PAI\PEI、铝合金
精度...
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