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AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座详细信息/Detailed Information

AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座

车规级功率器件老化座规格参数:
适配IC封装:TO247
pin脚数:3pin
引脚中心距:5.44mm
订购热线:13631538587
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TO247场效应管MOS管TO-247封装老化测试夹具测试座肖特基二极管测试夹具

特点:单PIN引脚使用多根探针接触,保证大功率、大电流稳定传输,散热大焊盘使用接地散热探针来加速管子散热不易烧坏。

TO247-3pin大电流下压老化座产品简介:

电流:单pin持续电流≤2A

工作温度:PEI/PES:-55°C-175°C

PPS:-55°C-200°C

耐压:2000V

频率:≤200MHZ

机械寿命:≥50000次

使用寿命:≥50000次

TO247老化座支持3pin和4pin下针,图纸如下:TO247老化座图纸

车规级芯片老化座

车规级功率芯片老化座

TO老化座

TO247老化测试座


采购:AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座

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引脚中心间距:1.27mm
适配芯片尺寸:3.8*3.8mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式-一拖四工位
老化座材料:PEI+PEEK
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芯片引脚:48pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:7*7*0.75mm
接触介质:探针
老化座结构:翻盖式
老化座材料:合金+PEEK
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芯片引脚:121pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:8*8mm
接触介质:探针
烧录座结构:翻盖式
烧录座材料:PEI+PEEK

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