车规级功率器件TO247-3pin老化测试座

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AEC-Q系列车规级功率器件TO247封装3pin老化测试座

车规级功率器件老化座规格参数：
适配IC封装:TO247
pin脚数：3pin
引脚中心距：5.44mm

订购热线：13631538587

产品详情

TO247场效应管MOS管TO-247封装老化测试夹具测试座肖特基二极管测试夹具

特点：单PIN引脚使用多根探针接触，保证大功率、大电流稳定传输，散热大焊盘使用接地散热探针来加速管子散热不易烧坏。

TO247-3pin大电流下压老化座产品简介：

电流：单pin持续电流≤2A

工作温度：PEI/PES:-55°C-175°C

PPS:-55°C-200°C

耐压：2000V

频率：≤200MHZ

机械寿命:≥50000次

使用寿命：≥50000次

TO247老化座支持3pin和4pin下针，图纸如下： TO247老化座图纸

车规级芯片老化座

车规级功率芯片老化座

TO老化座

TO247老化测试座

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②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：≤1.5A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~175℃≤85%rh；
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③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
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生产品牌厂家:鸿怡电子-HMILU
封装形式:DFN芯片/功率器件
引脚:8pin
引脚中心间距:2.0mm
适配尺寸:8*8*0.85mm
接触介质:探针
测试座结构:下压式
测试座材料:合金+PEEK