深圳鸿怡电子生产定制的QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座socket厂家

当前位置：首页 » 鸿怡电子产品中心 » 精密定制IC测试座 » QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座socket

QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座socket详细信息/Detailed Information

prevnext

查看全部大图

QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座socket

QFN48pin芯片测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:QFN
芯片引脚:46*8mm
芯片厚度:1.7mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

订购热线：13631538587

产品详情

深圳鸿怡电子工厂生产定制的QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座socket的产品简介

鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket，产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,

针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制。

产品介绍：
产品名称:QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座
使用用途:对QFN48pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用，支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数:频率小于500MHZ,电流单pin小于1A,温度-45-125,做振动测试,测试稳定
产品特点:
测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨,抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高。
④测试（老化）PCB与Socket采用定位销定位及防呆,采用螺丝连接,固定,拆卸,维护简单方便。

IC测试座

QFN芯片测试socket

QFN芯片测试座

芯片测试座

芯片测试socket

深圳鸿怡电子 QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座socket厂家

采购：QFN48pin合金翻盖式通孔探针芯片测试座socket

*联系人：
*手机：
公司名称：
邮箱：
电话：
您是从哪里找到我们的：
*采购意向：
*验证码：

跟此产品相关的产品 / Related Products

: LCC96pin-0.5mm合金翻盖式探针芯片测试座socket; LCC96pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: 蝶形模块44pin-0.8mm-25x24mm测试座socket; 蝶形模块44pin测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
封装形式:蝶形管壳
模块引脚:44pin
模块引脚间距:0.8mm
适配尺寸:25*24mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: WLCSP42pin-0.4mm塑胶翻盖式晶圆级芯片探针测试座socket; WLCSP42pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：42pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2.633*3.184mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK