HMILU-QFN16pin-0.5mm-3X3mm翻盖探针芯片老化测试座

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QFN16pin芯片老化测试夹具规格尺寸：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm

订购热线：13631538587

产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-QFN16pin-0.5mm-3X3mm翻盖探针芯片老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN16pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试，芯片可靠性测试

QFN16pin芯片老炼夹具产品简介：

芯片测试频率：小于500Mhz

芯片测试电压：300mA

芯片测试温度：-45°~+125°，85%相对湿度，单次时长260小时

芯片老炼夹具结构：翻盖式

芯片老化座材料：PEI

IC测试座

QFN芯片测试socket

QFN芯片测试夹具

芯片测试座

IC测试夹具

: LCC96pin-0.5mm合金翻盖式探针芯片测试座socket; LCC96pin芯片测试夹具规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:96pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:12*16mm
接触介质:探针
测试座结构:翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: 蝶形模块44pin-0.8mm-25x24mm测试座socket; 蝶形模块44pin测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
封装形式:蝶形管壳
模块引脚:44pin
模块引脚间距:0.8mm
适配尺寸:25*24mm
接触介质:探针
测试座结构:旋钮翻盖式
测试座材料:合金+PEEK

: WLCSP42pin-0.4mm塑胶翻盖式晶圆级芯片探针测试座socket; WLCSP42pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：42pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2.633*3.184mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI+PEEK