鸿怡电子生产定制的88PIN-0.8mm-30x20mm合金翻盖芯片老化座--老化板的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用88pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,(支持芯片HTOL测试、HAST测试)
88pin芯片测试座+IC老化板产品简介:
1. HTOL高温运行,120℃通电2000小时
2. HAST加速老化,120℃/85%RH 96小时,通电/不通电都有
3. TC温循,-45~150℃通电2000小时
4. THB双85,85℃/85%RH 2000小时,通电/不通电都有
芯片测试座结构:翻盖式