QFN16pin封装芯片下压单面弹片老化座案例

来源：鸿怡电子查看手机网址

扫一扫!

扫一扫!

浏览：- 发布日期：2023-02-07 15:16:17【大中小】

QFN老化测试座规格参数：

测试芯片封装类型：QFN

测试芯片引脚：16pin

测试引脚间距：0.5mm

测试芯片尺寸：3×3mm

QFN老化座

QFN16pin封装芯片老化测试要求：

老化测试温度：-40°~+100°

性能测试：测试电流：整体1A

测试回损：-20db@2GHZ

测试插损：-2db@2GHZ

测试温度：正常温度

老化测试座材料：合金

老化测试座结构：旋钮式双扣

制作方式：加工定制

QFN下压老化座

在各类封装芯片测试座、老化座的制作案例中，QFN封装类型的测试需求目前来说需求量还是很大的，在鸿怡电子常见的有QFN8、QFN32、QFN48等等这种类型的测试座、老化座socket需求+V威（icsocket66888）（功能性测试和性能测试需求请在与工程师对接的时候要注明！

QFN16pin芯片老化测试座

WSON8烧录座 DFN8 4*4mm 0.8间距翻盖探针测试座MLP8编程座厂家

WSON8烧录座 DFN8 4*4mm 0.8间距翻盖探针测试座MLP8编程座厂家
定制电感SMD2pin-5.25x2.16塑胶翻盖探针测试座

贴片电感SMD2pin测试座规格参数：
贴片电感SMD
引脚：2pin
引脚间距：5.25m...
BGA80-0.8（7×9）下压探针老化测试座

工厂直销，专业定制各封装、脚位、PIN数芯片老化测试座；
本款老化座，适配BGA80脚，...
QFN80pin-0.35mm-8×8mm合金翻盖探针测试座socket

QFN80pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引...
QFN封装电源芯片18pin-0.4_4×3测试治具

产品名称：QFN封装电源芯片测试治具
详情描述：QFN封装，18pin 间距0.4mm 4*3mm
...