- [鸿怡动态]芯片老化座助力客户完成芯片老化测试工作2020年03月12日 17:14
- 随着电子产品更新换代速度的加快,消费者对产品的挑剔不仅仅局限于产品的外观,对电子产品内在的质量、稳定性也有了诸多要求。而芯片在电子产品中如同心脏一般起着至关重要的作用。一颗芯的好坏,直接影响着电子产品的使用寿命。所以,现在的芯片在封装好出厂前,芯片厂商都还会再进行严密的温度加速老化和HAST的温湿度老化测试。 老化HTOL【High Temperature Operating Life】,就是在高温下加速芯片老化,然后估算芯片寿命。还有HAST【Highly Accelera
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- [鸿怡动态]鸿怡电子--致力于test socket市场2019年06月05日 17:52
- 在Test Socket市场上,众多韩国以及国外的企业竞争十分激烈。然而在如此激烈的竞争中,却有一家企业在ICSocket领域独占鳌头。 随着存储芯片逐渐向微型发展,将锡球贴在芯片的下端后,主要采用与电路板(PCB)接合的球栅阵列封装(BGA)技术,这种情况下ANDKSocket更为合适。鸿怡电子研发了两款弹片结构的BGA老化测试socket,一种为单面弹,采用传统焊接方式与PCB板固定,另一种为双面弹,采用我司创新的锁螺丝方式与PCB板固定。客户可根据实际情况自由选择。与
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- [行业资讯]SK海力士宣布将停产36层和48层3D NAND2019年05月07日 17:31
- SK海力士对外宣布将停止生产成本相对高的3D NAND初期产品-2代(36层)、3代(48层),并提高72层的生产比重。下半年则计划利用96层4D NAND产品刺激SSD、移动市场。青州新M15工厂考量目前的需求量,量产速度将比原计划慢,预计SK海力士今年的NAND晶圆投入量会比去年减少10%以上。 SK海力士对此表示,在存储器需求不确定、期待需求恢复的市场中,将集中精力在降低成本和确保品质。 未来针对DRAM领域,SK海力士将着重转换细微工程。首先将逐渐扩大第一代10纳米
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- [鸿怡动态]什么是烧录座?2019年04月09日 15:02
- 深圳市鸿怡电子有限公司自2001年开始生产销售各类的IC测试座、IC老化座和IC烧录座。经常会遇到一些不同客户有关烧录座上的一些问题. 今天跟大家一起共同探讨有关烧录的相关事宜。首先讲一下,什么是烧录?烧录就是程序员写好的程序,把程序导入到目标IC上面,实现一个完整的动作。 烧录的过程我们也叫做编程,也有地方叫做 ic copy。当然,我们更习惯称之为烧录。 烧录座我们也叫编程座。配合烧录座工作的机器我们称之为烧录器,因为台湾的半导体产业发展的早,到大陆后,客户之所以叫它为
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- [行业资讯]SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储2019年04月01日 18:10
- SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储 最近,在位于加利福尼亚州圣何塞的OpenCompute Project(OCP)中,SK海力士展示了用于数据中心的Zoned Namedspaces(ZNS)SSD。 SK海力士指出,与之前的SSD产品相比,新款ZNS SSD的速度和可靠性提高了30%,使用寿命更长。值得注意的是,它还具有数据分类存储功能。 普通SSD通常在存储音乐,照片和视频时不考虑数据类型。由于海力士独立开发的ZNS数据管理技术,新的ZNS SSD可
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- [行业资讯]SSD主控芯片CP测试你真的知道么?2019年03月27日 16:49
- 在芯片测试领域,主要分为两部分测试,业界通俗的叫法是CP和FT,我们今天主要谈谈CP的问题。什么是CP测试?CP是(ChipProbe)是缩写,指的是芯片在foundry流片回来后,需要在wafer level 进行简单的DC和功能测试,主要是通过探针卡的探针扎到芯片PAD上,然后通过ATE输入激励信号,测试芯片的输出响应。 CP测试的工具如下: 大多数情况下,特别是在国内,我们目前在CP测试上选用的探针都还是悬臂针(也有叫环氧针的,因为针是用环氧树脂固定的缘故)。这种
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- [行业资讯]Flash芯片的分类2019年03月19日 18:28
- Flash又分NAND Flash和NOR Flash,NOR型存储内容以编码为主,其功能多与运算相关;NAND型主要功能是存储资料,如数码相机中所用的记忆卡。 现在大部分的SSD都是用来存储不易丢失的资料,所以SSD存储单元会选择NAND Flash芯片。这里我们讲的就是SSD中的NAND Flash芯片。针对flash芯片的测试,鸿怡电子可以提供完整的flash芯片测试治具及其解决方案。 (1)Nor Flash:主要用来执行片上程序 优点:具有很好的读写性能和随机访问性
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- [鸿怡动态]电源IC老化座测试座的清洁和保养2019年03月12日 18:16
- 深圳市鸿怡电子有限公司,主要生产销售各类芯片的老化座、测试座。如各类电源IC、射频IC测试座等。客户在进行芯片测试的时候,电源IC老化座测试座使用时间长了之后会有一些灰尘和污垢,从而影响客户的测试和老化。那么电源IC老化测试座的如何清理和保养?鸿怡电子的小编告诉您:1、首先,把电源IC老化测试座翻盖打开,接着倒放在超声波清洁器内。2、然后,在超声波清洁器内倒入适量的酒精,酒精的份量以把整个座头浸没为佳,并打开超声波清洁器开关,开始进行清洗工作,大概十分钟之后(如果老化测试座比
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- [鸿怡动态]关于BGA芯片级封装的老化测试座2019年02月20日 14:46
- 老化炉工作于各种不同的温度下,典型的最大老化温度为150摄氏度,IC老化座的寿命需要满足在高温下的总时间可能超过1000小时。由于老化期间加载了接触件,弹性元件经过了应力松弛。其中一种最佳弹性合金为CDA-172000,它是一种铍青铜合金。这种材料由于其兼具有可成型性、模量大、屈服强度高和应力松驰性能好,已经广泛用于IC老化插座。 一种冲压成型的接触件(我们称之为弹片)由铍青铜制成,用于0.75 mm节距的插座示于图5。这是一种具备现代工艺水平的金属成型的零件,片状材料的厚度
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- [行业资讯]主控芯片AS2258支持最新製程3D NAND2019年02月19日 16:06
- 随着大数据需求爆发,电子产品的发展与技术进步,影片、小视频、音乐、照片等各种形式的数据量持续爆增,持续推动数据存储市场需求不断增长。 SSD所具备大容量、高稳定、高速度、低功耗等优势,为消费者带来更加流畅的用户体验,并推动SSD市场规模不断增长,2018年全球SSD市场规模已超过2亿台,未来将持续扩大在市场上的应用。 SSD大容量的关键在于NAND Flash技术的发展。随着原厂技术的进步,3D NAND制程良率与产能不断提升,现已全面进入3D NAND时代 2019年将逐步
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- [鸿怡动态]介绍一款新的WLCSP封装测试座2019年01月14日 18:04
- ANDK测试座是中国较早的测试座生产商,生产IC测试座、老化座等。在智能设备快速发展的时代,其中使用的集成芯片受到越来越多的关注。 WLCSP晶圆级测试座用于测试一系列集成芯片,如蓝牙,电源管理和数字显示控制器。在客户的帮助下,ANDK测试座成功开发并测试了晶圆级芯片测试头。 ANDK测试台的半导体测试系列具有以下优点:1.独特的设计,确保信号路径最短,接触阻抗低,稳定,载流量大,使用寿命约10万次;2.自主研发的peek +陶瓷塑料原料,高效耐磨,耐高温,高硬度的板材,从而
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- [行业资讯]ePOP NAND flash测试socket即将来临2018年12月03日 17:46
- 鸿怡电子适用于ePOP芯片的IC老化座、测试socket即将来临。智能手表等智能可穿戴设备由于空间狭小,对组件的面积和高度有着严格的限制。 ePOP内存芯片的出现无疑是雪中送炭。ePoP 是一款高度集成的 JEDEC 标准组件,在一个小巧的封装内整合了 eMMC 和 LPDRAM。ePoP 直接安装到兼容主机 CPU 的上部,这可以有效节省电路板空间,并确保最佳性能,得益于内存邻近主机 CPU。它非常适合可穿戴设备等空间非常受限的系统。 中国著名的嵌入式存储器供应商Weiwe
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- [行业资讯]慧荣SM2262EN SSD主控支持96层3D NAND2018年11月08日 14:49
- 伴随着大数据以及云时代的来临,人们对于各种数据的应用需求也日渐增高,无处不在的智能设备与无处不在的海量数据存储持续上升。前不久在深圳举办的 “闪存市场峰会〞上,慧荣科技展示出全系列PCIe NVMe SSD控制芯片解决方案。 其中,有专为企业及数据中心应用所设计的SM2270双模控制芯片方案,提供高性能、大容量、高可靠性和低延迟设计,并支持Open-Channel的应用,同时也可搭载Turnkey固件以支持标准NVMe协议;此外,还展出针对消费级SSD所设计的高效
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- [鸿怡动态]用于SSD固态硬盘芯片的开卡测试方案板2018年11月05日 17:43
- 为大家介绍几款用于ssd固态硬盘/U盘板芯片开卡量产测试的方案板和flash ic测试座 SSD NAND闪存SM2256K主控测试解决方案适用于BGA152 132 100 88 LGA60 TSOP48 96闪存4合1多个PCB板该测试板采用SM2256K主控,可支持BGA152 / 132/100/88 / LGA60,TSOP84与DIP48(4CE测试)和DIP96(8CE测试)等多个封装闪存芯片测试,测试座可自由互换。a)为了测试TSOP48封装的闪存,我们可以同
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- [鸿怡动态]鸿怡电子-国内高品质的IC测试座生产定制厂家2018年10月25日 15:43
- 现阶段的中国IC产业崛起速度如雨后春笋,相关配套产业链也逐步变得强大和完善。 拿一个在IC产业链上微小但又不可缺少的环节——IC测试socket举例,Socket是IC测试时经常要用到的治具,主要功能是实现IC引脚和测试PCB或者loadboard的电气性能连接。 在IC设计、封测、制造行业内的人都知道,原来的IC测试socket领域基本被美国的TI、WELLS和日本的yamaichi、3M、ENPLAS等企业垄断,价格高昂,拿非常普通的flash芯片
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- [行业资讯]什么是HAST( 加速老化测试)?2018年10月23日 11:26
- 加速老化测试的定义和测试标准HAST高度加速的温度和湿度压力测试(HAST)是一个高度加速,以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数, HAST也称为压力测试(PCT)或不饱和压力试验(USPCT)。其目的是评估测试样本,通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。HAST测试标准 HAST是加速防潮测试的更加加速版本,与高温/高湿度测试(85C / 85%RH)相比,HAST会产生更多成分,接触
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