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APtina摄像头模组测试治具
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位...
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QFN16-0.4(3*3)翻盖弹片IC测试老化座
HMILU QFN16-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座qfn适配器
烧写座
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片老化座
QFN16-0.4HMILU自有品牌,大量现货当天发! 【0.4间距/不带板】
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QFN12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座
QFN12-0.5芯片老化座 下压qfn12测试座 NP506-012-033-C-G
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 下压弹片老化座,QFN12-0.5
HMILU自有品牌, 【0.5间距/不带板】
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QFN48-0.5(7*7)翻盖弹片芯片测试座
●产品结构&电气性能稳定,使用操作简便。
●胶体使用PEI&PES耐高低温(-55℃~+170℃)。
●金属导体使用日本NGK铍铜,耐疲劳及高低温(-50℃~+900℃)和优良的导电性。
●此款测试座...
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BGA63翻盖探针转dip48芯片测试座
BGA63翻盖探针转DIP48测试座
BGA63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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BGA64-1.0翻盖弹片IC老化测试座
深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类BGA/QFN、IC的Burn-in Socket和Test Socket
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BGA272-0.8翻盖双面弹芯片老化座测试座
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LGA52翻盖探针转dip48芯片测试编程座
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QFN16-0.4(3*3)下压弹片IC测试老化座
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QFN52-0.4(7*7)翻盖弹片IC老化测试座
QFN52-0.4 老化座 芯片测试座 编程座 0.4间距 工厂 现货
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QFN76-0.4(9*9)翻盖弹片芯片老化测试座
QFN76 老化座 0.4间距 翻盖弹片测试座 适配器
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sop44-1.27下压弹片烧录座 525mil
SOP44转DIP44 烧录座 525mil PSOP44 SOIC44 适配器
烧写座
编程座
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BGA144-0.8下压弹片老化测试座 国芯GX3011B 测试座
国芯GX3011B 测试座 老化座 烧录座 BGA144 IC插座 0.8间距 深圳市鸿怡电子有限公司为国芯GX3011B这款芯片(BGA144 10*10mm pitch:0.8mm)专门定制的一款可以上自动机台的下压弹片测试座!性能稳定,寿命长,性价比...
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BGA152/132/88翻盖弹片转DIP48芯片测试座
BGA152/132/88翻盖弹片老化座 SSD NAND Flash芯片测试座 转DIP48
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BGA316翻盖探针U盘测试夹具
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BGA132/152转DIP48G下压弹片FLASH芯片测试座
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BGA107-0.8下压弹片芯片测试老化座
产品用途:测试座,对BGA107的IC芯片进行测试、数据读写
适用封装:BGA107 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA107-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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BGA48-0.8下压弹片芯片测试老化座
产品用途:IC测试座、IC老化座,对BGA67的IC芯片进行测试、数据清空;
适用封装:BGA48 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA48-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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BGA67-0.8下压弹片芯片测试老化座
产品用途:测试座,对BGA67的IC芯片进行测试、数据清空
适用封装:BGA67 引脚间距0.8mm
测 试 座:BGA67-0.8
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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[新闻中心]1分钟带您了解芯片烧录座和芯片烧录设有什么区别?
2023年02月20日 14:27
注意:编程烧录器、芯片烧录座(
烧写座
、清空座、编程座、烧录转接座、逻辑测试座、DIP烧录座)烧录夹等都是烧录设备中的一种 芯片烧录座: 半导体芯片烧录座、IC烧录座,是一款操作简便、效率高的连接器设备,简单理解:不管是烧录座、烧录夹又或者是测试座、老化座,其本质都是一款连接器,只是根据不同的封装测试所使用的测试座夹具不同。如SOP烧录座、MSOP烧录座、QFP烧录座、QFN烧录座、BGA烧录座、EMMC烧录座、邮票孔模块烧录座等等全系封装芯片烧录座socket。 芯片烧录座适
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