鸿怡电子生产QFN88老化座_QFN88-0.4芯片座_10×10mm烧录座_0.4间距镀金测试座,同时还生产其他IC测试夹具治具。
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座,对QFN88的IC芯片进行老化、测试
可用于作HOTL\HAST老化试验
B、适用封装:QFN88引脚间距0.4mm
C、测试座:QFN88-0.4
D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次
E、工作温度:-55℃~155℃ 电流:1A max
F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-88-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:88
D、芯片尺寸:10*10mm 对应国外型号790-62088-101T