QFN32-0.4测试座转DIP32烧录座_编程座_老化座

来源：鸿怡电子查看手机网址

扫一扫!

扫一扫!

浏览：- 发布日期：2021-09-09 14:42:06【大中小】

工厂介绍

鸿怡电子生产QFN32-0.4测试座转DIP32烧录座_编程座_老化座，同时还生产其他IC测试夹具治具。

QFN32烧录座

本款测试座是翻盖结构；适配芯片规格：QFN封装、32pin；引脚间距：0.4mm；芯片规格尺寸 4x4mm

有带板和不带板选择

QFN32-0.4翻盖弹片测试座

QFN32测试座转DIP32烧录座
产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN32引脚间距0.4mm

测试座:QFN32-0.4

规格尺寸

型号:QFN-32-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:32

芯片尺寸:4*4mm

QFN32转DIP32老化烧录测试座

SSOP30(34)-0.65下压弹片IC测试座

本款老化座适配芯片规格：SSOP/TSSOP封装、30PIN；
引脚间距0.65mm、芯片本体（不含引...
定制DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座

DFN14pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚...
定制LPDDR3 BGA178合金翻盖式芯片分析测试座

定制集成电路测试插座LPDDR3 bga178适配器IC测试插座插座双锁翻盖结构分析测试插座
类...
TO封装元器件测试座 TO46-5PIN老化座耐高温 TO46-5PIN热电堆传感器老化座

产品名称：TO 系列老化座
型号：TO46-5-2.54
材质类别：
塑胶主体：进口 LC...
LGA14pin封装芯片合金翻盖探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：2.2...