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QFN24-0.4下压弹片老化座_IC测试座_NP506-024-024-SC-G

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浏览:- 发布日期:2021-09-27 09:54:41【
工厂介绍

鸿怡电子生产QFN24-0.4下压弹片老化座_IC测试座_NP506-024-024-SC-G,同时还生产其他IC芯片测试夹具治具。

QFN24老化测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN24的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN24引脚间距0.4mm

测试座:QFN24-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-24-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:24

芯片尺寸:4*4

QFN24-0.4 IC老化测试座

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