目的：光电通信模块测试

名称：PLCC测试座、CLCC测试座

PLCC48pin封装芯片测试座规格：

芯片封装类型：CLCC、PLCC

芯片引脚：48pin

芯片引脚间距：1.0mm

芯片尺寸：16.4×16.4mm

芯片厚度：4.0mm

测试温度：-50°~+100°

测试时长：持续1000小时左右

测试频率：1MHZ

测试速率：单通道速率（3Gbps-10Gbps）

测试电流：500毫安内

在鸿怡电子众多HMILU封装芯片测试座案例中，后续将会分享更多的IC测试座、老化座、烧录座、芯片测试夹具、芯片测试治具、芯片测试架等案例，仅供参考，敬请关注！