IC测试座,老化座,芯片测试治具,弹片微针模组,大电流弹片微针模组

当前位置：首页 » 鸿怡电子新闻中心 » 新闻中心

新闻中心 / News Center

查看详情
2017-10

2017年IC封测代工排名 拓墣产业研究院最新研究指出，2017年移动通讯电子产品需求量上升，带动高I/O数与高整合度先进封装渗透率，同时也提升市场对于封测产量、质量的要求，全球IC封测产值摆脱2016年微幅下滑状况，201...
查看详情
1717-10

鸿怡IC test socket特点 深圳市鸿怡电子有限公司是中国首家专业设计制造高性能、低成本Burn-in & TestSocket和BGA/QFN/ IC测试治具的供应商，我们的产品使用寿命长、测试精度高，获得多项中国国家发明专利和适用新型专...
查看详情
2617-09

鸿怡电子国庆放假通知 深圳鸿怡电子有限公司专注17年生产研发各类封装、间距、尺寸之IC测试座、手机测试治具、晶振测试座产品。欢迎有需要的客户咨询洽谈！
查看详情
2617-08

探针测试座中探针的作用详解 IC测试探针的选择起着至关重要的一部，鸿怡电子生产、研发的IC测试治具，探针均选用日本进口探针。保证客户测试性能稳定的同时，寿命也更加长。
查看详情
1217-08

BGA封装老化测试座介绍 深圳市鸿怡电子有限公司，BGA老化座产品种类齐全。可根据客户需要来图定制，欢迎有需要的老板咨询洽谈业务！！
查看详情
0317-08

如何选择合适的测试座产品？ 相信很多做工程的朋友，经常面临着编程、烧录、测试芯片的工作，但是如何选择合适封种的IC测试座产品呢？下面，鸿怡电子的销售工程师凭自己多年的销售选型经验，为大家解析个中奥秘！