接触阻抗的大小影响因素 经常,有客户在选择鸿怡电子的IC测试座时,会问到测试座的接触阻抗问题,那么,接触阻抗的大小到底跟哪些因素有关呢? 下面,就让鸿怡电子的工程师为大家来解惑!
DDR4 SDRAM内存颗粒导电胶测试治具的首次研发 不管,国产的DDR4芯片是否已经量产,鸿怡电子的DDR4内存颗料测试夹具已经蓄势待发中。新的DDR44内存条测试夹具采用新的导电胶结构,测试更加的稳定。采用DDR4内存条公板,可兼容多个品牌型号的D...
鸿怡电子-关于手机摄像头模组的测试夹具 鸿怡电子,针对不同的摄像头产品其连接类型不同(如连接器型、金手指型)而推出新的针模测试夹具。代替了传统的插拔形式的测试和采用探针模组对摄像头模组的金手指造成的损伤。
弹片微针模组与探针模组的优劣对比 我公司新研发了,由开模弹片与CONNECTOR直接接触的方式对CONNECTOR进行测试;避免了因采用MAING CONNECTOR 产生的各种问题;
BTB/FPC微针模组测试治具 以上FPC功能测试整体解决方案由深圳市鸿怡电子有限公司提供,希望对大家有所帮助. 邮箱:liu@hydz999.com 欢迎发送您的FPC/connector参数,由我公司专业的工程技术人员为您评估报价!
鸿怡电子告诉您,什么是测试探针? 鸿怡电子拥有多年的IC测试座、测试治具设计研发生产经验,所有的探针均采用国外进口品牌。保证客户的测试更加精准,稳定。测试治具的寿命也更长! 欢迎来电咨询!